[发明专利]OLED显示面板

权利要求书

1.一种OLED显示面板，具有显示区以及围绕所述显示区的非显示区，其特征在于，所述非显示区还包括绑定区、第一扇出走线区、弯折区以及第二扇出走线区，所述弯折区位于所述第一扇出走线区与所述第二扇出走线区之间，所述第一扇出走线区与所述第二扇出走线区均设有多条扇出数据线，所述绑定区设有集成电路芯片和多个焊盘，所述扇出数据线经由所述绑定区与所述焊盘连接；

其中，所述绑定区与所述第一扇出走线区之间还设置有绑定测试区，所述绑定测试区内设置有绑定测试电路，所述绑定测试电路用于检测经过所述绑定区的所述扇出数据线是否存在异常；

所述绑定测试电路包括第一测试输入线、第二测试输入线、测试数据线以及多个薄膜晶体管，多个所述薄膜晶体管均沿着第一方向D1排列；所述第一测试输入线以及所述第二测试输入线用于控制多个所述薄膜晶体管的开关，所述测试数据线用于输入测试数据信号至所述绑定区。

2.根据权利要求1所述的OLED显示面板，其特征在于，所述测试数据线的测试数据电压范围为2～5V。

3.根据权利要求1所述的OLED显示面板，其特征在于，所述扇出数据线、所述第一测试输入线、所述第二测试输入线以及所述测试数据线的材料均与所述薄膜晶体管中源漏级的材料相同。

4.根据权利要求1所述的OLED显示面板，其特征在于，多个所述薄膜晶体管均为PMOS器件。

5.根据权利要求4所述的OLED显示面板，其特征在于，多个所述薄膜晶体管包括第一类薄膜晶体管以及第二类薄膜晶体管，所述第一类薄膜晶体管的栅极与所述第一测试输入线相连接，所述第一类薄膜晶体管的源极与所述测试数据线相连接，所述第一类薄膜晶体管的漏极与所述扇出数据线相连接；所述第二类薄膜晶体管的栅极与所述第二测试输入线相连接，所述第二类薄膜晶体管的源极与所述扇出数据线相连接，所述第二类薄膜晶体管的漏极与所述扇出数据线相连接。

6.根据权利要求5所述的OLED显示面板，其特征在于，当所述OLED显示面板处于模组测试阶段时，所述第一测试输入线的电压为高电平电压，所述第一类薄膜晶体管关闭，所述第二测试输入线的电压为低电平电压，所述第二类薄膜晶体管开启，所述扇出数据线输入第一数据信号至所述绑定区。

7.根据权利要求5所述的OLED显示面板，其特征在于，当所述OLED显示面板处于绑定测试阶段时，所述第一测试输入线的电压为低电平电压，所述第一类薄膜晶体管开启，所述第二测试输入线的电压为高电平电压，所述第二类薄膜晶体管关闭，所述测试数据线输入第二数据信号至所述绑定区。

8.根据权利要求6或7所述的OLED显示面板，其特征在于，当所述OLED显示面板在模组测试阶段存在垂直线类不良现象，而在绑定测试阶段时不存在垂直线类不良现象时，位于所述绑定区的所述扇出数据线处于异常状态。