[发明专利]一种孔轴台阶高度检测结构在审
申请号: | 202010669869.0 | 申请日: | 2020-07-13 |
公开(公告)号: | CN111811369A | 公开(公告)日: | 2020-10-23 |
发明(设计)人: | 王华;刘正军;魏涛;王健生;王阳 | 申请(专利权)人: | 湖北豪凯汽车零部件有限公司 |
主分类号: | G01B5/06 | 分类号: | G01B5/06 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 442000 湖北省十*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 台阶 高度 检测 结构 | ||
本发明提供一种孔轴台阶高度检测结构,包括底座;底座上安装卡接的放置座,且底座上安装通过螺栓固定的滑动杆,放置座上放置有平放的带台阶孔轴;滑动杆上安装有滑动连接的连接机构,且连接机构上安装有螺纹连接的夹紧螺栓A与夹紧螺栓B;连接机构上设有通过螺栓固定的盖板。本发明改进了带台阶孔轴的检测结构,通过在高度尺上设置的百分表,将百分表与带台阶孔轴的表面相接触,推动带台阶孔轴,百分表的检测杆会随着带台阶孔轴的台阶形状上下浮动,从而测量孔轴台阶的高度差,用产品直径减高度差便是其台阶高度,快速、准确的检测。
技术领域
本发明属于机械加工检测技术领域,更具体地说,特别涉及一种孔轴台阶高度检测结构。
背景技术
在机械制作中,往往需要对工件表面的一些功能台阶进行高度检测,以保证功能台阶的使用精度,往往圆柱类的机械零件需要加工台阶槽,有一种带台阶孔轴,要测量其台阶高度。
基于上述,现有的孔轴台阶高度在检测时,会通过千分尺测量或者游标卡尺测量,由于千分尺测量测量时往往达不到测量效果,使得千分尺测量不成功,游标卡尺测量时无法避免圆柱面与孔的相贯问题,只能估测,测量不准确,需要通过百分表上下浮动测量孔轴台阶,在放置孔轴台阶时往往会通过夹具或者直接放在平面上测量,在测量与更换时比较费力。
于是,有鉴于此,针对现有的结构及缺失予以研究改良,提供一种孔轴台阶高度检测结构,以期达到更加实用的目的。
发明内容
为了解决上述技术问题,本发明提供一种孔轴台阶高度检测结构,以解决现有的孔轴台阶高度在检测时,会通过千分尺测量或者游标卡尺测量,由于千分尺测量测量时往往达不到测量效果,使得千分尺测量不成功,游标卡尺测量时无法避免圆柱面与孔的相贯问题,只能估测,测量不准确,需要通过百分表上下浮动测量孔轴台阶,在放置孔轴台阶时往往会通过夹具或者直接放在平面上测量,在测量与更换时比较费力的问题。
本发明一种孔轴台阶高度检测结构的目的与功效,由以下具体技术手段所达成:
一种孔轴台阶高度检测结构,包括底座;所述底座上安装卡接的放置座,且底座上安装通过螺栓固定的滑动杆,放置座上放置有平放的带台阶孔轴;所述滑动杆上安装有滑动连接的连接机构,且连接机构上安装有螺纹连接的夹紧螺栓A与夹紧螺栓B;所述连接机构上设有通过螺栓固定的盖板,且盖板上开设有与夹紧螺栓B相契合的通孔;所述连接机构上开设有与夹紧螺栓B相契合的横向通孔,且百分表通过夹紧螺栓A固定在连接机构上。
进一步的,矩形的所述底座上开设有一个V形槽。
进一步的,所述底座上开设有两个矩形限位槽,且放置座与滑动杆底部均设有与限位槽相契合的矩形凸起。
进一步的,所述滑动杆上开设有一个矩形槽,且高度尺上开设有与滑动杆相契合的通孔,高度尺上设有与滑动杆凹槽对正的夹紧螺栓B。
进一步的,所述连接机构包括有高度尺和六角螺母,所述高度尺上开设有六角槽,且六角槽中设有六角螺母。
进一步的,所述高度尺的一侧开设有矩形槽,且矩形槽上对称开设有与百分表检测棒相契合的圆弧槽,百分表穿插高度尺的矩形槽。
与现有技术相比,本发明具有如下有益效果:
本发明改进了带台阶孔轴的检测结构,通过在高度尺上设置的百分表,将百分表与带台阶孔轴的表面相接触,推动带台阶孔轴,百分表的检测杆会随着带台阶孔轴的台阶形状上下浮动,从而测量孔轴台阶的高度差,用产品直径减高度差便是其台阶高度,快速、准确的检测。
改进了高度尺的连接结构,通过在高度尺上设置的六角螺母,使得六角螺母方便单独更换,一定程度上节约了更换成本,通过在滑动杆上设置的矩形槽,使得高度尺能够周向限位,而且还增大了夹紧螺栓B的接触面的。
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