[发明专利]一种精准测量微波作用下样品质量变化的装置

权利要求书

1.一种精准测量微波作用下样品质量变化的装置，包括托盘、传感器、数据处理系统和微波发射系统，所述传感器采集托盘中物体重力数据并传输到数据处理系统，所述数据处理系统对传感器采集的数据进行处理，得到物体的重量；其特征在于，所述托盘安装在悬臂梁的自由端，所述传感器为应力传感器，所述传感器安装在所述悬臂梁上，采集所述悬臂梁在物体重力作用下产生的应力数据并传输到数据处理系统，所述数据处理系统对所述应力数据进行处理，得到物体重量。

2.根据权利要求1所述的一种精准测量微波作用下样品质量变化的装置，其特征在于，所述应力传感器为电阻应力传感器。

3.根据权利要求2所述的一种精准测量微波作用下样品质量变化的装置，其特征在于，所述传感器沿重力方向配置在悬臂梁两面。

4.根据权利要求3所述的一种精准测量微波作用下样品质量变化的装置，其特征在于，所述悬臂梁两面分别配置2只传感器。

5.根据权利要求4所述的一种精准测量微波作用下样品质量变化的装置，其特征在于，所述传感器连接成桥式电路。

6.根据权利要求5所述的一种精准测量微波作用下样品质量变化的装置，其特征在于，位于所述悬臂梁上表面的2只传感器分别连接在所述桥式电路的相对两臂上，位于所述悬臂梁下表面的2只传感器分别连接在所述桥式电路的另外两臂上。

7.根据权利要求1所述的一种精准测量微波作用下样品质量变化的装置，其特征在于，所述应力传感器为光纤应力传感器。

8.根据权利要求1所述的一种精准测量微波作用下样品质量变化的装置，其特征在于，所述悬臂梁固定端设置有长度调节机构。

9.根据上述任意一项权利要求所述的一种精准测量微波作用下样品质量变化的装置，其特征在于，所述托盘安装在微波加热腔体中。

10.根据权利要求8所述的一种精准测量微波作用下样品质量变化的装置，其特征在于，所述托盘通过重力传导装置与所述悬臂梁连接。