[发明专利]一种基于图像识别的砂石检测方法在审

专利信息
申请号: 202010672064.1 申请日: 2020-07-14
公开(公告)号: CN111833327A 公开(公告)日: 2020-10-27
发明(设计)人: 李亚坤;刘军;袁德胜;王治猛 申请(专利权)人: 中国建筑第二工程局有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/13;G06T7/62;G06K9/38;G01N15/02
代理公司: 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 11467 代理人: 俞江
地址: 518000 广东省深圳市福田*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 图像 识别 砂石 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种基于图像识别的砂石检测方法,其特征在于,包括:将待检砂石进行图像二值化,细砂、中砂、粗砂分别呈现出不同密度的像素点,计算各类砂石的像素点与总像素点的实际占比值,对比各类砂石的预设占比区间,判断砂石的类型;将待检砂石图像二值化后进行轮廓检测,统计每个砂石的粒径,计算各类砂石的平均粒径值,对比各类砂石的粒径范围,判断砂石的类型;最后,综合判断待检砂石的类型。

2.根据权利要求1所述基于图像识别的砂石检测方法,其特征在于, 将上述得到的各类砂石的实际占比值,比上该类砂石预设的理想占比值,计算占比得分A;将上述得到的各类砂石的平均粒径值,比上该类砂石预设的理想粒径值,计算粒径得分B;最后结合占比得分A和粒径得分B算出总分C,综合判断砂石的质量。

3.根据权利要求2所述基于图像识别的砂石检测方法,其特征在于,所述总分;计算结果越接近1 ,砂石的质量越好。

4.根据权利要求1所述基于图像识别的砂石检测方法,其特征在于,上述计算各类砂石的像素点与总像素点的实际占比值方法如下:将二值化后的图像进行分块,统计每块图像中砂石的像素点与总像素点的比例,数据去噪后得出各类砂石的占比结果。

5.根据权利要求1所述基于图像识别的砂石检测方法,其特征在于,上述计算各类砂石平均粒径的方法如下:将待检砂石进行轮廓检测,数据去噪后统计各类砂石的平均粒径值。

6.一种基于图像识别的砂石检测装置,其特征在于,包括:

占比计算模块:将待检砂石进行图像二值化,细砂、中砂、粗砂分别呈现出不同密度的像素点,计算各类砂石的像素点与总像素点的实际占比值,对比各类砂石的预设占比区间,判断砂石的类型;

粒径计算模块:将待检砂石图像二值化后进行轮廓检测,统计每个砂石的粒径,计算各类砂石的平均粒径值,对比各类砂石的粒径范围,判断砂石的类型;

最后,综合判断待检砂石的类型。

7.根据权利要求6所述基于图像识别的砂石检测装置,其特征在于, 在占比计算模块中,将各类砂石的实际占比值比上该类砂石预设的理想占比值,计算占比得分A;在粒径计算模块中,将各类砂石的平均粒径值比上该类砂石预设的理想粒径值,计算粒径得分B;最后结合占比得分A和粒径得分B算出总分C,综合判断砂石的质量。

8.根据权利要求7所述基于图像识别的砂石检测装置,其特征在于,所述总分;计算结果越接近1 ,砂石的质量越好。

9.根据权利要求6所述基于图像识别的砂石检测方法,其特征在于,上述计算各类砂石的像素点与总像素点的实际占比值方法如下:将二值化后的图像进行分块,统计每块图像中砂石的像素点与总像素点的比例,数据去噪后得出各类砂石的占比结果。

10.根据权利要求6所述基于图像识别的砂石检测装置,其特征在于,上述计算各类砂石平均粒径的方法如下:将待检砂石进行轮廓检测,数据去噪后统计各类砂石的平均粒径值。

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