[发明专利]一种天线性能的检测装置及检测方法

权利要求书

1.一种天线性能的检测装置，其特征在于，包括：

微波暗室，所述微波暗室为封闭空间，用于容置待检测天线；

至少一个天线接收器，所述天线接收器设置于所述微波暗室的内壁；

多轴可旋转转台，所述多轴可旋转转台用于固定所述待检测天线，在所述多轴可旋转转台旋转时带动所述待检测天线移动，使至少一个所述天线接收器从多方位接收所述待检测天线发射的天线信号，以根据多方位接收到的所述天线信号确定所述待检测天线的性能。

2.根据权利要求1所述的天线性能的检测装置，其特征在于，所述多轴可旋转转台设置于所述微波暗室的底壁、侧壁或顶壁的任一位置。

3.根据权利要求1或2任一项所述的天线性能的检测装置，其特征在于，所述微波暗室的形状为正方体、长方体或圆柱体中的任一种。

4.根据权利要求1所述的天线性能的检测装置，其特征在于，所述至少一个天线接收器阵列排布，分别在所述微波暗室的底壁、侧壁以及顶壁，以从多方位接收所述待检测天线发射的天线信号。

5.根据权利要求1所述的天线性能的检测装置，其特征在于，所述至少一个天线接收器可移动地设置于所述微波暗室的内壁，以从多方位接收所述待检测天线发射的天线信号。

6.根据权利要求1所述的天线性能的检测装置，其特征在于，

所述天线接收器为多个时，所述多个天线接收器之间互不干扰。

7.一种天线性能的检测方法，其特征在于，所述天线性能的检测方法是通过天线性能的检测装置进行检测，所述检测装置包括微波暗室，所述微波暗室为封闭空间；天线接收器，所述天线接收器设置于所述微波暗室的内壁；多轴可旋转转台，所述多轴可旋转转台用于固定所述天线；所述检测方法包括：

通过多轴可旋转转台旋转时带动所述天线移动；

通过所述至少一个天线接收器从多方位接收容置于所述微波暗室内的所述天线发射的天线信号；

对各个所述天线接收器接收到的所述天线信号进行检测，确定所述天线的性能。

8.根据权利要求7所述的天线性能的检测方法，其特征在于，所述至少一个天线接收器阵列排布，分别在所述微波暗室的底壁、侧壁以及顶壁，所述对各个所述天线接收器接收到的所述天线信号进行检测，确定所述天线的性能包括：

基于各个所述天线接收器接收到的天线信号确定所述天线的能量分布；

利用所述天线的能量分布确定所述天线的性能。

9.根据权利要求8所述天线性能的检测方法，其特征在于，所述天线信号的性能指标包括有效全向辐射功率、信噪比以及窄波方向中的至少一种；所述基于各个所述天线接收器接收到的天线信号确定所述天线的能量分布的步骤包括：

根据所述有效全向辐射功率、信噪比以及窄波方向中的至少一种计算得到所述天线的能量分布。

10.根据权利要求8所述天线性能的检测方法，其特征在于，所述天线包括毫米波天线。