[发明专利]电容器寿命测试系统及其测试方法

权利要求书

1.一种电容器寿命测试系统，其特征在于，包括：

纹波信号产生单元，用于产生一可调的纹波测试信号；

直流电源，用于为待测电容器提供充电电压；

用于放置待测电容器的测试夹具，具有至少一个电容器放置位；每个所述电容器放置位上具有测试正极与测试负极，所述测试正极与所述测试负极分别用于与待测电容器的正极、负极电连接；

充放电通道选择单元，与所述纹波信号产生单元、所述直流电源、所述测试夹具的电极连接，具有至少一个与所述电容器放置位对应的充放电通道，各充放电通道可受控被选通；当有充放电通道被选通并处于充电模式时，所述直流电源通过被选通的充放电通道向待测电容器充电且充电电压和充电电流可调，同时所述纹波测试信号通过被选通的充放电通道作用于待测电容器，而当有充放电通道被选通并处于放电模式时，待测电容器可通过被选通的充放电通道进行放电；

参数采样单元，用于在待测电容器充放电时采集相关电参数，作为当前模拟的工作环境；

分析单元，与所述电容器放置位上的待测电容器电连接，用于分析待测电容器在当前模拟的工作环境下的寿命指标。

2.如权利要求1所述的电容器寿命测试系统，其特征在于，所述纹波信号产生单元包括：

频率可调的波形产生模块，用于产生指定频率的波形；

幅值调节模块，与所述波形产生模块连接，用于将所述波形的幅值调节至指定幅值。

3.如权利要求2所述的电容器寿命测试系统，其特征在于，所述频率可调的波形产生模块包括：

R2R DAC电阻网络，用于受控将数字信号转换为模拟信号；

控制器，用于向所述R2R DAC电阻网络提供数字信号并调整所述R2R DAC电阻网络的连接状态，以使所述R2R DAC电阻网络输出模拟的指定频率的波形。

4.如权利要求3所述的电容器寿命测试系统，其特征在于，所述频率可调的波形产生模块还包括：

可控的积分网络，与所述R2R DAC电阻网络连接，用于将所述R2R DAC电阻网络输出的波形调整为指定形状的波形。

5.如权利要求3或4所述的电容器寿命测试系统，其特征在于，所述频率可调的波形产生模块还包括：

第一电压跟随器，与所述R2R DAC电阻网络连接，用于将所述R2R DAC电阻网络输出的波形进行电压跟随处理，跟随处理后的波形作为所述频率可调的波形产生模块最终的波形输出。

6.如权利要求2所述的电容器寿命测试系统，其特征在于，所述幅值调节模块包括一个电子模拟开关或若干个串联的电子模拟开关；

每个电子模拟开关的输入端连接所述频率可调的波形产生模块的输出端，每个电子模拟开关的输出端的输出幅值可调。

7.如权利要求6所述的电容器寿命测试系统，其特征在于，所述幅值调节模块的输入端和输出端分别连接有第二电压跟随器和第三电压跟随器。

8.如权利要求6所述的电容器寿命测试系统，其特征在于，每个所述充放电通道包括：功放通道、第一可控开关、第二可控开关、电阻R1、电阻R2、电阻R3；

所述测试正极经所述第一可控开关、所述电阻R1连接至所述直流电源的负极；所述纹波信号产生单元和所述直流电源的正极均经所述功放通道、所述第二可控开关连接至所述测试正极；所述电阻R2的第一端连接所述直流电源的负极，所述电阻R2的第二端连接所述测试负极，且所述电阻R2的第二端还通过所述电阻R3连接所述参数采样单元。

9.如权利要求8所述的电容器寿命测试系统，其特征在于，在所述测试夹具上，相邻的每两个所述电容器放置位为一组，共用一个测试负极；

在所述充放电通道选择单元中，每两个所述充放电通道集成在一块电路板上，且共用所述第一电阻、所述第二电阻和所述第三电阻。