[发明专利]基于Gaussian-Surface保边滤波的显示屏Mura缺陷检测方法及装置

权利要求书

1.基于Gaussian-Surface保边滤波的显示屏Mura缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：

对待检测图像进行包括Gaussian-Surface保边滤波的预处理，得到检测图像；

提取所述检测图像感兴趣区域，得到初处理检测图像；

构建所述初处理检测图像的背景图像；

采用区域生长分割Mura缺陷。

2.根据权利要求1所述的基于Gaussian-Surface保边滤波的显示屏Mura缺陷检测方法，其特征在于所述Gaussian-Surface保边滤波的具体过程如下：

Gaussian-Surface保边滤波器采用一个大小为m×n的滤波器w(x,y)与一幅图像f(x,y)做卷积操作，输出图像记为F(x,y)：

其中，r表示邻域半径，在图像坐标下取整数；滤波器系数w(s,t)综合考虑值域和定义域的影响，具体计算如下式：

其中，Y表示阈值，范围上限为相机位深所对应最大灰阶值[1,Max[P]]，σ表示标准差。

3.根据权利要求1所述的基于Gaussian-Surface保边滤波的显示屏Mura缺陷检测方法，其特征在于所述提取检测图像感兴趣区域是提取所述检测图像中的屏体发光AA(Active area)区。

4.根据权利要求3所述的基于Gaussian-Surface保边滤波的显示屏Mura缺陷检测方法，其特征在于：所述构建初处理检测图像的背景图像具体方法是：将屏体发光AA区划分为w×h个区域，计算每个区域的均值，将其构建为一个新的临时背景图像，遍历临时背景图像，通过高斯模板去除变化较大的点，继而通过三次样条差值来放大至原来图像，完成背景图像的构建。

5.根据权利要求4所述的基于Gaussian-Surface保边滤波的显示屏Mura缺陷检测方法，其特征在于所述采用区域生长分割Mura缺陷的具体方法是：

将所述初处理检测图像与所述背景图像进行差值，获取Mura的前景图像O(x,y)；遍历O(x,y)并找出所有极值点，将这些极值点作为寻找Mura缺陷区域的种子点；新建Mura缺陷待选图像g(x,y)，将种子点坐标(s,t)处像素标记为1，所有其他像素标记为0；在O(x,y)种子点(s,t)周围八连通区域内所有满足阈值范围内的点，添加到g(x,y)中，标记为1；形态学处理连接g(x,y)中Mura区域，判定为待检测屏幕Mura缺陷区。

6.根据权利要求1所述的基于Gaussian-Surface保边滤波的显示屏Mura缺陷检测方法，其特征在于，所述显示屏是主动发光型显示屏。

7.根据权利要求6所述的基于Gaussian-Surface保边滤波的显示屏Mura缺陷检测方法，其特征在于，所述主动发光型显示屏是OLED显示屏、Mini LED显示屏或uLED显示屏。

8.基于Gaussian-Surface保边滤波的显示屏Mura缺陷检测装置，其特征在于，所述装置包括：

图像获取单元，用于得到待检测图像；

图像预处理单元，用于对待检测图像进行包括Gaussian-Surface保边滤波的预处理，提取感兴趣区域，得到检测图像；

图像提取单元，用于提取所述检测图像感兴趣区域，得到初处理检测图像；

构建背景图像单元，用于构建初处理检测图像的背景图像；

分割Mura缺陷单元，用于利用区域生长分割Mura缺陷待选区；

标记Mura缺陷单元，用于多画面综合计算Mura缺陷并标记出Mura缺陷。

9.根据权利要求8所述的基于Gaussian-Surface保边滤波的显示屏Mura缺陷检测装置，其特征在于，所述显示屏是主动发光型显示屏。

10.根据权利要求9所述的基于Gaussian-Surface保边滤波的显示屏Mura缺陷检测装置，其特征在于，所述主动发光型显示屏是OLED显示屏、Mini LED显示屏或uLED显示屏。