[发明专利]一种黑体源辐射面源温度均匀性和稳定性的检测方法在审
申请号: | 202010680170.4 | 申请日: | 2020-07-15 |
公开(公告)号: | CN111854978A | 公开(公告)日: | 2020-10-30 |
发明(设计)人: | 吴永东;张利平 | 申请(专利权)人: | 浙江双视红外科技股份有限公司 |
主分类号: | G01J5/52 | 分类号: | G01J5/52;G01J5/00 |
代理公司: | 杭州伟知新盛专利代理事务所(特殊普通合伙) 33275 | 代理人: | 李成龙 |
地址: | 310051 浙江省杭州市滨*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 黑体 辐射 温度 均匀 稳定性 检测 方法 | ||
1.一种黑体源辐射面源温度均匀性和稳定性的检测方法,其特征在于,该检测方法包括:环境搭建、均匀性分析、稳定性分析,其中所述环境搭建,包括如下步骤:
a)分别准备一个黑体源,一个高精度红外热像仪,将热像仪与黑体源通电足够长时间,确保运行稳定;
b)将黑体源温度值调节并稳定至预设温度值T;
c)将高精度红外热像仪与黑体源之间距离设置为N米,红外热像仪正对黑体源以确保黑体源位于热成像画面正中间;
所述均匀性分析,包括如下步骤:
d)获取当前时间红外热像图,记录并保存当前时间红外热像图和像素对应温度值;
e)取当前时间像素对应温度值与预设温度值T差的绝对值以获得温度差值,将获得的温度差值与预设差值A比较以判断黑体源均匀性是否达到要求;
所述稳定性分析,包括如下步骤:
f)每隔一段时间后截取当前时间红外热像图,记录并保存当前时间红外热像图和像素对应温度值;
g)任意选择两个截取的时间,分别计算两个时间对应的温度差值;每一个温度差值均为当前时间像素对应温度值与预设温度值T差的绝对值;
h)再计算步骤g)中两个温度差值的差的绝对值,并将计算结果与预设差值B比较以判断黑体源稳定性是否达到要求。
2.根据权利要求1所述的一种黑体源辐射面源温度均匀性和稳定性的检测方法,其特征在于,记录并保存当前时间像素对应温度值的方法:确定红外热像图中黑体辐射面源区域的位置,对应每个像素点获取黑体辐射面源区域内的所有温度值Txiyi,其中,xi表示i时间水平像素点的温度值,yi表示i时间垂直像素点的温度值;x的范围是0-Xmax,y的范围是0-Ymax。
3.根据权利要求2所述的一种黑体源辐射面源温度均匀性和稳定性的检测方法,其特征在于,步骤e)中温度差值为ΔTxiyi,其计算公式为ΔTxiyi=|Txiyi-T|;当ΔTxiyi的值小于或等于预设值A,则均匀性符合要求,否则不符合要求。
4.根据权利要求2或3所述的一种黑体源辐射面源温度均匀性和稳定性的检测方法,其特征在于,步骤g)中两个温度差值的差的绝对值为ΔTi,j,其计算公式为ΔTi,j=|ΔTxiyi-ΔTxjyj|;当ΔTi,j的值小于或等于预设值B,则稳定性符合要求,否则不符合;其中,xj表示j时间水平像素点的温度值,yj表示j时间垂直像素点的温度值。
5.根据权利要求3所述的一种黑体源辐射面源温度均匀性和稳定性的检测方法,其特征在于,所述ΔTxiyi预设值A为0.2。
6.根据权利要求4所述的一种黑体源辐射面源温度均匀性和稳定性的检测方法,其特征在于,所述ΔTi,j预设值B为0.1。
7.根据权利要求1所述的一种黑体源辐射面源温度均匀性和稳定性的检测方法,其特征在于,所述高精度红外热像仪的分辨率为640*480。
8.根据权利要求1所述的一种黑体源辐射面源温度均匀性和稳定性的检测方法,其特征在于,所述N取值范围为2-10m。
9.根据权利要求1所述的一种黑体源辐射面源温度均匀性和稳定性的检测方法,其特征在于,预设温度值T范围为35℃-60℃。
10.根据权利要求1所述的一种黑体源辐射面源温度均匀性和稳定性的检测方法,其特征在于,步骤f)中间隔时间为5-20min。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于浙江双视红外科技股份有限公司,未经浙江双视红外科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010680170.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。