[发明专利]一种平面度测量装置及其使用方法在审

专利信息
申请号: 202010682519.8 申请日: 2020-07-15
公开(公告)号: CN113945171A 公开(公告)日: 2022-01-18
发明(设计)人: 刘新波;赵一策;刘存领 申请(专利权)人: 邵阳学院
主分类号: G01B11/30 分类号: G01B11/30
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 422000 湖*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 一种 平面 测量 装置 及其 使用方法
【权利要求书】:

1.一种平面度测量装置,包括激光测头(100),一维电动平移台(200),回转结构(300),被测平面(400)和上位机系统(500):

所述激光测头(100)包括:三角法激光传感器(101)、安装架(102)、锂电池(103)、单片机系统(104)、蓝牙天线(105)、平移电机驱动器(106)、第一螺钉(108)、钢丝螺套(109)、第二螺钉(110)、压紧螺母(111)、电池压板(112)和第一法兰(113);所述激光测头(100)通过所述第一法兰(113)和所述一维电动平移台(200)连接;所述一维电动平移台(200)通过布置在底部的第二法兰(201)与所述回转结构(400)相连。

2.根据权利要求1所述的平面度测量装置,其特征在于,所述锂电池(103)为所述三角法激光传感器(101)、所述单片机系统(104)、所述平移电机驱动器(106)以及所述一维电动平移台(200)的平移电机(202)提供电源。

3.根据权利要求1所述的平面度测量装置,其特征在于:所述回转结构(300)带动所述一维电动平移台(200)和所述激光测头旋转(100),实现激光对所述被测平面(400)的圆形扫描,所述一维电动平移台(200)可调整圆形扫描半径。

4.一种如权力要求1-3任意一项所述的装置的使用方法,其特征在于,包含如下步骤:

1)启动回转结构(300),带动一维电动平移台(200)和激光测头(100)旋转;

2)单片机系统(104)控制一维电动平移台(200)运动到最大可扫描圆周半径位置,激光测头(100)扫描被测平面(400),测算出被测平面(400)和回转法平面之间的纵向和横向斜度;

3)控制一维电动平移台(200)的燕尾滑台(204)运动到指定扫描半径的位置1,激光测头在位置1进行圆形扫描,形成扫描点云数据,由上位机系统根据平面度评价方法,计算剔除斜度影响后该圆周的平面度;

4)重复步骤3),激光测头(100)在不同位置n进行圆形扫描(n=2,3,…N,N5),并根据所测圆的点云数据,计算出该圆周的平面度;

5)根据步骤3)和步骤4)所得扫描圆周的平面度,取平均后即表示被测平面的综合平面度。

5.根据权力要求4所述的使用方法,其特征在于,在步骤2中,圆周半径等于回转轴线与激光束的距离,最大扫描圆周半径由一维电动平移台(200)的行程范围和被测平面(400)的尺寸决定。

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