[发明专利]高指数、弯帽线栅偏振器在审
申请号: | 202010685561.5 | 申请日: | 2020-07-16 |
公开(公告)号: | CN112241038A | 公开(公告)日: | 2021-01-19 |
发明(设计)人: | R·S·尼尔森;B·R·威廉姆斯 | 申请(专利权)人: | 莫克斯泰克公司 |
主分类号: | G02B5/30 | 分类号: | G02B5/30 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 陈斌 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 指数 弯帽线栅 偏振 | ||
线栅偏振器(WGP)的每根导线可包括从基板向外移动的以下层:高指数层、低指数层、以及反射层。每根导线可具有离基板最远、具有凸形形状的远端。这些层和凸形形状可被组合用于更稳定和改进的Rs。
发明领域
本申请一般涉及线栅偏振器。
背景技术
线栅偏振器(WGP)可将光分为两种不同的偏振状态。一种偏振状态可以主要通过WGP,而另一种偏振状态可以主要被吸收或反射。WGP的有效性或性能基于主导透射偏振(有时称为Tp)的高透射、相反偏振的最小透射(有时称为Ts)和相反偏振的期望反射(有时称为Rs)。对比度(Tp/Ts)是WGP性能的有用指示符。
如果将使用所反射的光束,则具有相反偏振的高反射率(例如,高Rs)是有帮助的。对于反射型WGP而言,高Rs是期望的,而效率(Tp*Rs)是WGP性能的有用指示符。如果不使用所反射的光束,并且如果所反射的光会干扰光学系统,则这有助于具有较低的Rs。由于难以制造纳米大小的导线,晶片之间甚至每个晶片内的Rs可能会有过度的变化。减少这种变化将是有益的。
发明内容
已经认识到,改进线栅偏振器(WGP)的性能和减少Rs的变化将是有利的。本发明针对满足这些需求的WGP的各种实施例。
WGP可包括在基板的表面上具有毗邻导线之间的通道的导线阵列。每根导线可包括从基板向外移动的以下层:高指数层、低指数层和反射层。
附图的简要说明(附图可能未按比例绘制)
图1是根据本发明的实施例的包括基板11的面11F上的导线阵列12的线栅偏振器(WGP)10的示意性横截面侧视图;每根导线12包括高指数层HL、低指数层LL和反射层RL。
图2是根据本发明实施例的与WGP 10类似的WGP 20的示意性横截面侧视图,但是WGP 20进一步包括每根导线12的具有凸形形状的远端12D。
图3是根据本发明的实施例的与WGP 10和20类似的WGP 30的示意性横截面侧视图,除了WGP 20的反射层RL位于每根导线12的远端12D处并且反射层RL具有凸形形状之外。
图4是根据本发明的实施例的使用WGP 40使光偏振的方法的示意图,该方法包括从光源41向WGP 40(WGP 40的面向光源41的基板11)发射光束42。
定义。以下定义(包括其复数形式)贯穿本专利申请适用。
本文所列出的金属氧化物包括金属与氧以任何比率的组合,包括非化学计量的组合。
除非本文另有明确说明,否则所有n和k的值(折射率的实部n和消光系数k)是跨从450nm到700nm的波长范围的此种值。
如本文中所使用的,短语“本质上包括”和关于线结构的相关短语意指导线包括所提及的(诸)薄膜,但不包括用于光学性能的其他(诸)薄膜。然而,导线还可包括杂质,或用于防止诸如腐蚀或氧化的涂层。出于本定义的目的,导线12下的基板肋部不包括在该导线中。
如本文中所使用的,术语“细长的”意指导线12的长度L(进入附图的版面中并垂直于导线宽度W12或导线厚度Th12)实质上大于导线宽度W12或导线厚度Th12(例如,L可以是导线宽度W12和/或导线厚度Th12的≥10倍、≥100倍、≥1000倍,或≥10000倍)。见图1。
如本文中所使用的,术语“nm”意指(几)纳米。
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