[发明专利]射频电子元件测试装置及应用其的测试设备在审

专利信息
申请号: 202010685619.6 申请日: 2020-07-16
公开(公告)号: CN113945776A 公开(公告)日: 2022-01-18
发明(设计)人: 李子玮 申请(专利权)人: 鸿劲精密股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R29/10;G01R1/04;G01R1/18
代理公司: 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 代理人: 李怀周
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 射频 电子元件 测试 装置 应用 设备
【权利要求书】:

1.一种射频电子元件测试装置,其特征在于,包含:

电性测试器:设有电性连接的电路板及至少一测试座,该测试座供电性连接至少一位于测试工位的该射频电子元件,以对该射频电子元件执行电性测试作业;

天线测试器:设有至少一信号作业件,以供对该射频电子元件执行无线信号测试作业;

接合机构:设有承载器及防扰压件,该承载器供装配该防扰压件,该防扰压件具有压接面,以于该承载器承载该防扰压件,使得该防扰压件位于该天线测试器与该射频电子元件之间,该防扰压件对该射频电子元件施以压接力。

2.根据权利要求1所述的射频电子元件测试装置,其特征在于,该接合机构的该承载器于该防扰压件或其周侧设置至少一拾取件,以供取放该射频电子元件。

3.根据权利要求1所述的射频电子元件测试装置,其特征在于,该接合机构的该承载器供装配该天线测试器及该防扰压件。

4.根据权利要求1所述的射频电子元件测试装置,其特征在于,该接合机构的该防扰压件以防屏蔽材质制作,并具有低介电系数。

5.根据权利要求1所述的射频电子元件测试装置,其该接合机构的该防扰压件的防干扰范围大于该射频电子元件的待测指向范围。

6.根据权利要求1所述的射频电子元件测试装置,其特征在于,该接合机构的该防扰压件的一面作为该压接面,以供压接该射频电子元件,另一面为装配面,以供相对于该天线测试器,该压接面与该装配面间形成传输通道。

7.根据权利要求1所述的射频电子元件测试装置,其特征在于,该接合机构的该电性测试器装配于第一平台,该天线测试器装配于第二平台。

8.根据权利要求7所述的射频电子元件测试装置,其特征在于,该电性测试器及该接合机构装配于该第一平台。

9.根据权利要求7所述的射频电子元件测试装置,其特征在于,该第一平台或该第二平台配置至少一调整器,以供调整该电性测试器或该天线测试器的摆置位置或角度。

10.根据权利要求1至9中任一项所述的射频电子元件测试装置,其特征在于,更包含测试室,以供该电性测试器、该天线测试器及该接合机构于测试时位于该测试室。

11.根据权利要求10所述的射频电子元件测试装置,其特征在于,该测试室于该电性测试器的一方设置载台,以载送射频电子元件。

12.一种应用根据权利要求1所述的射频电子元件测试装置的测试设备,其特征在于,包含:

机台;

供料装置:配置于该机台上,并设有至少一容纳待测射频电子元件的供料承置器;

收料装置:配置于该机台上,并设有至少一容纳已测射频电子元件的收料承置器;

至少一个根据权利要求1所述的射频电子元件测试装置:配置于该机台上;

输送装置:配置于该机台上,并设有至少一输送器,用以输送射频电子元件;

中央控制装置:以控制及整合各装置驱动,以执行自动化作业。

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