[发明专利]存储器验证在审

专利信息
申请号: 202010685651.4 申请日: 2020-07-16
公开(公告)号: CN112309483A 公开(公告)日: 2021-02-02
发明(设计)人: R·R·卡尔森;A·U·利马耶;D·C·马杰鲁斯;D·M·贝尔;S·M·莫里松 申请(专利权)人: 美光科技公司
主分类号: G11C29/38 分类号: G11C29/38;G11C29/00
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 王龙
地址: 美国爱*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 存储器 验证
【权利要求书】:

1.一种用于存储器验证的设备(100),其包括:

存储器装置(110,410-0,410-1,410-2)的多个存储器部件(115-0,…,115-N);以及

可编程元件的阵列(111),用于存储要广播到所述多个存储器部件的信息;

控制电路(102),其被配置为:

在将所存储的信息广播到所述多个存储器部件期间捕获所述所存储的信息的至少一部分;

基于所捕获的信息来确定第一验证代码(351);以及

基于将所确定的第一验证代码与存储在所述存储器装置的寄存器(107,207,307)中的第二验证代码(353)进行比较来确定所述存储器装置是否是可靠的存储器装置。

2.根据权利要求1所述的设备,其中所述可编程元件的阵列包括熔丝阵列,所述熔丝阵列在以下中的至少一个中存储熔丝信息:

多个熔丝;以及

多个反熔丝。

3.根据权利要求2所述的设备,其中所述熔丝信息包括对应于所述存储器装置的有缺陷的地址的修复地址信息。

4.根据权利要求3所述的设备,其中所述修复地址信息包括列熔丝数据和行熔丝数据,并且其中在所述广播期间捕获的所述所存储信息的所述至少一部分仅包括列熔丝数据。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的设备,其中所述控制电路被配置为通过在将所述第一验证代码与存储在所述存储器装置的所述寄存器中的所述第二验证代码进行比较之前对所述所捕获的信息进行编码,基于所述所捕获的信息来确定所述第一验证代码。

6.根据权利要求5所述的设备,其还包括线性反馈移位寄存器LFSR,所述线性反馈移位寄存器被配置为对所述所捕获的信息进行编码。

7.根据权利要求1至4中任一项所述的设备,其中所述存储器装置的所述寄存器包括不可写访问的模式寄存器。

8.根据权利要求1至4中任一项所述的设备,其中所述多个存储器部件包括多个存储器单元库(115-0,…,115-N)。

9.根据权利要求8所述的设备,其中所述存储器单元库包括易失性存储器单元,并且其中所述可编程元件的阵列包括非易失性存储元件。

10.根据权利要求1至4中任一项所述的设备,其中所述控制电路被配置为响应于确定所述第一验证代码和所述第二验证代码之间的不匹配,提供所述存储器装置不是验证存储器装置的指示。

11.根据权利要求1至4中任一项所述的设备,其中所述多个存储器部件包括相应的存储器阵列,并且其中所述控制电路被配置为响应于确定所述第一验证代码和所述第二验证代码之间的不匹配来防止对所述存储器的访问。

12.一种用于验证存储器装置的方法(580),其包括:

在可编程元件的阵列(111)中存储要广播到所述存储器装置(110,410-0,410-1,410-2)的多个存储器部件(115-0,…,115-N)的信息;

在将所存储的信息广播到所述多个存储器部件期间,捕获所述所存储的信息的至少一部分;

基于所捕获的信息来确定第一验证代码(351);

将所述第一验证代码存储在所述存储器装置的寄存器(107,207,307)中;

向所述存储器装置提供第二验证(353)代码;

将所述第一验证代码与所述第二验证代码进行比较,其中所述第二验证代码是基于所述可编程元件的阵列中所述所存储的信息;以及

至少部分地基于将所述第一验证代码与所述第二验证代码进行比较来确定所述存储器装置的特性。

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