[发明专利]校正亮度均匀性的三维打印方法及其设备在审
申请号: | 202010687016.X | 申请日: | 2020-07-16 |
公开(公告)号: | CN113942229A | 公开(公告)日: | 2022-01-18 |
发明(设计)人: | 侯锋 | 申请(专利权)人: | 上海普利生机电科技有限公司 |
主分类号: | B29C64/393 | 分类号: | B29C64/393;G06T5/00;B33Y50/02 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 骆希聪 |
地址: | 201612 上海市松江区漕河泾开发*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 校正 亮度 均匀 三维 打印 方法 及其 设备 | ||
1.一种校正亮度均匀性的三维打印方法,包括以下步骤:
向所述三维打印设备的成像面板提供参考图像,使所述成像面板投射投影图像;
通过设于所述成像面板的出光侧且接近所述投影图像的成像面的光检测器,采样所述投影图像的至少部分区域的亮度;
在所述至少部分区域的亮度中确定参考点亮度;
以所述参考点亮度为基准,调整所述成像面板的灰度,使所述投影图像中预定面积比例的区域亮度一致,并记录灰度调整矩阵;
根据所述灰度调整矩阵,对待打印三维模型的切片图像数据进行灰度补偿,获得补偿后切片图像数据;以及
在三维打印过程中,向所述三维打印设备的成像面板提供所述补偿后切片图像数据。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述光检测器设置在位于所述投影镜头的出光侧的承载机构上,所述方法还包括控制所述承载机构沿着二维平面移动以运载所述光检测器获得所述亮度。
3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,采样所述投影图像的至少部分区域的亮度的步骤包括:
移动所述光检测器到所述二维平面的多个设定区域,且在每个设定区域确定所述光检测器在所述成像面板上的相对位置,以及采集所述每个设定区域的亮度。
4.如权利要求2所述的方法,其特征在于,以所述参考点亮度为基准,调整所述成像面板的灰度,使所述投影图像中预定面积比例的区域亮度一致,并记录灰度调整矩阵的步骤包括:
移动所述光检测器到所述二维平面的第一预定点;
调整所述成像面板与所述第一预定点对应的第一显示点的灰度;
使用所述光检测器检测所述第一预定点的亮度;
当所述第一预定点的亮度与参考点亮度一致时,完成所述第一显示点调整,并记录所述第一显示点的灰度;以及
针对所述成像面板中的多个显示点重复执行上述步骤,得到所述灰度调整矩阵。
5.如权利要求1所述的方法,其特征在于,以所述参考点亮度为基准,调整所述成像面板的灰度,使所述投影图像中预定面积比例的区域亮度一致,并记录灰度调整矩阵的步骤包括:
根据所述参考点亮度和所述至少部分区域的亮度调整所述成像面板在多个设定区域的灰度,以使得所述多个设定区域的亮度与所述参考点的亮度一致;以及
记录所述多个设定区域的灰度调整值作为所述灰度调整矩阵。
6.如权利要求4所述的方法,其特征在于,还包括对所述多个显示点之间的未采集亮度的显示点的灰度进行插值运算,并包含在所述灰度调整矩阵中。
7.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述参考点为所述亮度中排序低于一特定百分比阈值的点。
8.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述成像面板通过投影镜头投射所述投影图像。
9.一种校正三维打印设备的亮度均匀性的方法,所述三维打印设备包括曝光系统,所述曝光系统包括成像面板,所述方法包括以下步骤:
向所述三维打印设备的成像面板提供参考图像,使所述成像面板投射投影图像;
通过设于所述成像面板的出光侧且接近所述投影图像的成像面的光检测器,采样所述投影图像的至少部分区域的亮度;
在所述至少部分区域的亮度中确定参考点亮度;
以所述参考点亮度为基准,调整所述成像面板的灰度,使所述投影图像中预定面积比例的区域亮度一致,并记录灰度调整矩阵。
10.如权利要求9所述的方法,其特征在于,采样所述投影图像的至少部分区域的亮度的步骤包括:
移动所述光检测器到所述光检测器所在二维平面的多个设定区域,且在每个设定区域确定所述光检测器在所述成像面板上的相对位置,以及采集所述每个设定区域的亮度。
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