[发明专利]一种环行器测包一体机

权利要求书

1.一种环行器测包一体机，其特征在于，包括测试机构、包装机构、输送机构以及测试系统，所述的测试机构包括用于检测环行器PIN脚的耐压参数的耐压测试组件(a)、用于检测环行器的PIN脚共面度的共面度测试组件(b)、用于检测环行器的PIN脚位置的脚位正确性测试组件(c)以及用于检测环行器的电气性能参数的参数测试组件(d)，所述的输送机构将待检测的环行器输送至各测试组件进行检测，检测结果输送至测试系统与预设值比对以进行良品与不良品的筛选，良品最后由输送机构输送至包装机构进行包装。

2.根据权利要求1所述的环行器测包一体机，其特征在于，所述的共面度测试组件(b)、脚位正确性测试组件(c)、参数测试组件(d)按任意顺序依次设置构成单路检测线路，所述的耐压测试组件(a)设置为单路检测线路的前工序或后工序，并且耐压测试组件(a)对若干个环行器同时进行检测。

3.根据权利要求2所述的环行器测包一体机，其特征在于，所述耐压测试组件(a)与单路检测线路之间设置有周转位(f)，所述的周转位(f)容纳环行器的数量至少为耐压测试组件(a)同时检测的环行器数量。

4.根据权利要求1所述的环行器测包一体机，其特征在于，还设置有不良品弃置盒，所述的测试系统控制输送机构将筛选出的不良品输送至不良品弃置盒。

5.根据权利要求1至4任一项所述的环行器测包一体机，其特征在于，所述耐压测试组件(a)包括测试探针(a2)和设置有用于放置环行器的定位槽(a11)的载具(a1)，所述的定位槽(a11)开设有用于露出环行器底部以及PIN脚的镂空孔，所述的测试探针(a2)设置在载具(a1)下方并由升降机构带动上下动作以使所述的测试探针(a2)穿入镂空孔与环行器PIN脚接触进行检测。

6.根据权利要求5所述的环行器测包一体机，其特征在于，所述输送机构包括输送机构一(h1)，所述的输送机构一(h1)包括由移动组件带动的吸嘴一(h11)，在耐压测试组件(a)进行检测时所述的吸嘴一(h11)由移动组件带动向下压住环行器。

7.根据权利要求1至4任一项所述的环行器测包一体机，其特征在于，所述共面度测试组件(b)包括基准平面(b1)、夹持机构(b2)和共面度检测仪(b3)，所述的基准平面(b1)由驱动机构带动在基准放置位与避让位之间动作，所述的基准平面(b1)处于基准放置位时环行器以环行器底面朝向于基准平面(b1)的方式被放置于基准平面(b1)上，所述的夹持机构(b2)夹持住该环行器以固定环行器的当前状态，所述的基准平面(b1)切换至避让位，面朝环行器底面的共面度检测仪(b3)对环行器的PIN脚共面度进行检测。

8.根据权利要求1至4任一项所述的环行器测包一体机，其特征在于，所述的脚位正确性测试组件(c)包括产品放置座(c1)和CCD镜头(C2)，所述的产品放置座(c1)上设置有与环行器匹配的放置凹槽(c11)，所述的放置凹槽(c11)为透明材质构成或者放置凹槽(c11)开设有露出环行器PIN脚的镂空通孔，所述的CCD镜头(C2)设置在产品放置座(c1)的下方并正对放置凹槽(c11)。

9.根据权利要求1至4任一项所述的环行器测包一体机，其特征在于，所述的参数测试组件(d)包括电路板件(d1)，所述电路板件(d1)上设置有用于与环行器的PIN脚一一对应进行电连接的电极以及与电极电连接的测试线(d2)，所述的参数测试组件(d)设置有与环行器匹配的限位槽(d3)，所述的电极设置在限位槽(d3)底侧。

10.根据权利要求9所述的环行器测包一体机，其特征在于，所述的参数测试组件(d)还包括用于将环行器压紧在电路板件(d1)上的压紧机构(d4)。