[发明专利]一种有机-无机复合近紫外LED及其制备方法在审
申请号: | 202010690347.9 | 申请日: | 2020-07-17 |
公开(公告)号: | CN111785842A | 公开(公告)日: | 2020-10-16 |
发明(设计)人: | 魏斌;廖翊诚;邵林 | 申请(专利权)人: | 浩物电子科技(苏州)有限公司 |
主分类号: | H01L51/50 | 分类号: | H01L51/50;H01L51/52;H01L51/56 |
代理公司: | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人: | 崔玥 |
地址: | 215000 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 有机 无机 复合 紫外 led 及其 制备 方法 | ||
1.一种有机-无机复合近紫外LED,其特征在于,包括倒置结构的n-GaN基板,以及依次设置在所述倒置结构的n-GaN基板上的电子传输层、发光层、空穴传输层、空穴注入层和电极。
2.根据权利要求1所述的有机-无机复合近紫外LED,其特征在于,所述n-GaN基板包括由下至上依次设置的Al2O3基板、u-GaN缓冲层、u-GaN外延层以及n-GaN外延层;所述u-GaN缓冲层以及所述u-GaN外延层未经Si掺杂,所述n-GaN外延层掺杂有Si。
3.根据权利要求1所述的有机-无机复合近紫外LED,其特征在于,所述n-GaN外延层中掺杂的Si的浓度为1016~1020/cm3。
4.根据权利要求1所述的有机-无机复合近紫外LED,其特征在于,所述u-GaN缓冲层的厚度为2.5μm。
5.根据权利要求1所述的有机-无机复合近紫外LED,其特征在于,所述n-GaN外延层的厚度为1.5μm。
6.一种有机-无机复合近紫外LED的制备方法,其特征在于,包括:
制备n-GaN基板;
对制备好的n-GaN基板进行图案化;
将图案化的n-GaN基板倒置,在倒置的n-GaN基板上蒸镀有机半导体材料。
7.根据权利要求6所述的有机-无机复合近紫外LED的制备方法,其特征在于,所述制备n-GaN基板,具体包括:
所述n-GaN基板通过MOCVD法制备;生长过程中,三甲基镓、三甲基铟、三乙基铝以及氨气分别作为Ga、In、Al和N的前驱体;硅烷作为N型掺杂源,氢气作为外延生长过程中的气体载体;生长过程中,首先在蓝宝石衬底Al2O3上在500~550℃的温度下低温生长一层厚度为2.5μm的未经Si掺杂的GaN缓冲层,用以缓解蓝宝石衬底和GaN之间的晶格失配;升温至1200℃,生长厚度为1.5μm的Si掺杂的n-GaN层,其中Si掺杂浓度为1016~1020/cm3,;最后经高温退火炉在1000℃下进行退火处理,得到n-GaN基板。
8.根据权利要求6所述的有机-无机复合近紫外LED的制备方法,其特征在于,所述对制备好的n-GaN基板进行图案化,具体包括:
将所述n-GaN基板依次放在洗涤剂溶液、丙酮和异丙醇溶液中,分别超声10分钟,完成清洗;
使用匀胶机将AZ9200光刻胶旋涂在清洗后的n-GaN基板上,转速设置为800rpm/5s-5000rpm/30s;
对旋涂后的n-GaN基板进行第一次退火,去除光刻胶中的溶剂,退火温度120℃,时间150s;
在光刻机下对退火处理后的n-GaN基板进行曝光,时间850s;
将曝光后的n-GaN基板放入显影液中显影,时间450s,将掩模板上的图案转移到n-GaN基板上,完成后用去离子水冲洗,去除多余的显影液;
对基板进行第二次退火,去除残留的去离子水,温度120℃,时间120s。
9.根据权利要求6所述的有机-无机复合近紫外LED的制备方法,其特征在于,所述将图案化的n-GaN基板倒置,在倒置的n-GaN基板上蒸镀有机半导体材料,具体包括:
通过真空蒸镀法在1×10-6Pa的真空度下,在已经图案化的n-GaN基板上蒸镀有机半导体材料,依次为电子传输层、发光层、空穴传输层、空穴注入层和电极。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L51-00 使用有机材料作有源部分或使用有机材料与其他材料的组合作有源部分的固态器件;专门适用于制造或处理这些器件或其部件的工艺方法或设备
H01L51-05 .专门适用于整流、放大、振荡或切换且并具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒的;具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒的电容器或电阻器
H01L51-42 .专门适用于感应红外线辐射、光、较短波长的电磁辐射或微粒辐射;专门适用于将这些辐射能转换为电能,或者适用于通过这样的辐射进行电能的控制
H01L51-50 .专门适用于光发射的,如有机发光二极管
H01L51-52 ..器件的零部件
H01L51-54 .. 材料选择