[发明专利]一种狭窄空间内的整机散射特性测试方法

权利要求书

1.一种狭窄空间内的整机散射特性测试方法，包括：在存放被测装备的库房内，设置具有某一弧度值的弧形探头导轨，所述弧形探头导轨的垂直向中心与所述被测装备垂直向中心等高并且所述弧形探头导轨的圆心与所述被测装备水平面的中心点重合，在所述弧形探头导轨上安装一个可自由移动的微波探头，所述微波探头通过微波开关矩阵与目标散射特性测试设备相连接，所述微波探头的波束指向被测装备并且所述微波探头在测控系统的控制下，能够沿所述弧形探头导轨自由移动。

2.根据权利要求1所述的一种狭窄空间内的整机散射特性测试方法， 所述弧度值为90度。

3.根据权利要求2所述的一种狭窄空间内的整机散射特性测试方法，放置所述被测装备后，将微波探头移动到弧形探头导轨的起始端，打开射频开始第一个90度测试，测试过程中，测控系统控制所述微波探头从起始端移动到终端，目标散射特性测试设备进行数据采集并编号保存，关闭射频；每一次沿顺时针调整被测装备水平姿态90度，重复上述测试步骤，直到完成所述被测装备水平向360度散射特性测试。

4.根据权利要求3所述的一种狭窄空间内的整机散射特性测试方法，移去被测装备，在中心位置放置一定标体，将所述微波探头移回到所述弧形探头导轨的起始端，打开射频开始定标体90度测试，测试过程中，测控系统控制所述微波探头从起始端移动到终端，目标散射特性测试设备进行数据采集并编号保存，关闭射频。

5.一种狭窄空间内的整机散射特性测试方法，包括一个90度弧形探头组合，所述90度弧形探头组合包括一组沿90度弧度均匀分布的微波探头，所述的一组微波探头的垂直向中心与被测装备垂直向中心等高并且所述的一组微波探头的圆心与被测装备水平面中心点重合，所述微波探头通过微波开关矩阵与目标散射特性测试设备相连接，所述微波探头的波束指向被测装备。

6.根据权利要求5所述的一种狭窄空间内的整机散射特性测试方法，所述微波探头的数量取决于其波束宽度的大小、所述微波探头距所述被测装备的距离及测量结果精度要求。

7.根据权利要求5所述的一种狭窄空间内的整机散射特性测试方法，在测试过程中，调整所述被测目标水平姿态4次，即可测量得到所述被测目标水平向360度范围内的散射特性数据。

8.根据权利要求5所述的一种狭窄空间内的整机散射特性测试方法，放置被测装备后，打开射频开始第一个90度测试，目标散射特性测试设备进行数据采集并编号保存，关闭射频；每一次沿顺时针调整被测装备水平姿态90度，重复上述测试步骤，直到完成被测装备水平向360度散射特性测试。

9.根据权利要求5所述的一种狭窄空间内的整机散射特性测试方法，移去被测装备，在中心位置放置一定标体，打开射频开始定标体90度测试，测试过程中，测控系统控制所述微波探头从起始端移动到终端，目标散射特性测试设备进行数据采集并编号保存，关闭射频。