[发明专利]一种确定直流避雷器电阻片的老化特性的方法及系统

权利要求书

1.一种确定直流避雷器电阻片的老化特性的方法，其特征在于，所述方法包括：

测量电阻片在加速老化试验前的第一正向直流参考电压、第一反向直流参考电压以及预设倍数的标称放电电流下的第一正向残压和第一反向残压；

对所述电阻片进行加速老化试验，获取所述电阻片的功率损耗开始值、功率损耗最大值和功率损耗最小值；

测量所述电阻片在加速老化试验后的第二正向直流参考电压、第二反向直流参考电压以及预设倍数的标称放电电流下的第二正向残压和第二反向残压；

根据所述第一正向直流参考电压、第一反向直流参考电压、第一正向残压、第一反向残压、第二正向直流参考电压、第二反向直流参考电压、第二正向残压、第二反向残压、功率损耗开始值、功率损耗最大值和功率损耗最小值，按照预设的老化特性判据，确定所述电阻片的老化特性；

其中，所述预设的老化特性判据，包括：

若所述电阻片的功率损耗最大值与功率损耗最小值的比值小于等于第一预设阈值，并且所述功率损耗最小值与功率损耗开始值的比值小于等于第二预设阈值，并且所述第一正向直流参考电压与第二正向直流参考电压间的正向直流参考电压变化率、第一反向直流参考电压和第二反向直流参考电压间的反向直流参考电压变化率、第一正向残压与第二正向残压间的正向残压变化率和第二正向残压与第二反向残压间的反向残压变化率均小于等于第三阈值，则确定所述电阻片的老化特性为稳定；反之，则确定所述电阻片的老化特性为不稳定。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在对所述电阻片进行加速老化试验时，将所述电阻片置于温控箱内，所述温控箱内的介质和与所述电阻片对应的避雷器内的介质相同，且所述温控箱内的介质密度大于等于避雷器中的介质密度。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述电阻片进行加速老化试验，获取所述电阻片的功率损耗开始值、功率损耗最大值和功率损耗最小值，包括：

保持所述电阻片处于预设的试验温度范围内，按照预设的电压持续时间对所述电阻片施加预设的加速老化试验电压，在施加试验电压的时间处于第一预设时间范围内时，对所述电阻片的功率损耗进行测量，以获取所述电阻片的功率损耗开始值；并在获取到所述功率损耗开始值后按照预设的时间间隔继续对所述电阻片的功率损耗进行测量，获取功率损耗最大值和功率损耗最小值；其中，所述功率损耗最大值为从测量到功率损耗最小值到老化试验结束期间的最大的功率损耗。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一预设阈值为1.3，所述第二预设阈值为1.1，所述第三阈值为5％，所述预设倍数包括：0.5倍和1倍。

5.一种确定直流避雷器电阻片的老化特性的系统，其特征在于，所述系统包括：

第一测量单元，用于测量电阻片在加速老化试验前的第一正向直流参考电压、第一反向直流参考电压以及预设倍数的标称放电电流下的第一正向残压和第一反向残压；

功率损耗获取单元，用于对所述电阻片进行加速老化试验，获取所述电阻片的功率损耗开始值、功率损耗最大值和功率损耗最小值；

第二测量单元，用于测量所述电阻片在加速老化试验后的第二正向直流参考电压、第二反向直流参考电压以及预设倍数的标称放电电流下的第二正向残压和第二反向残压；

老化特性确定单元，用于根据所述第一正向直流参考电压、第一反向直流参考电压、第一正向残压、第一反向残压、第二正向直流参考电压、第二反向直流参考电压、第二正向残压、第二反向残压、功率损耗开始值、功率损耗最大值和功率损耗最小值，按照预设的老化特性判据，确定所述电阻片的老化特性；

其中，所述预设的老化特性判据，包括：

若所述电阻片的功率损耗最大值与功率损耗最小值的比值小于等于第一预设阈值，并且所述功率损耗最小值与功率损耗开始值的比值小于等于第二预设阈值，并且所述第一正向直流参考电压与第二正向直流参考电压间的正向直流参考电压变化率、第一反向直流参考电压和第二反向直流参考电压间的反向直流参考电压变化率、第一正向残压与第二正向残压间的正向残压变化率和第二正向残压与第二反向残压间的反向残压变化率均小于等于第三阈值，则确定所述电阻片的老化特性为稳定；反之，则确定所述电阻片的老化特性为不稳定。