[发明专利]用于多激光多扫描系统的校准装置及其校准方法

权利要求书

1.一种用于多激光多扫描系统的校准装置的校准方法，其特征在于，用于多激光多扫描系统的校准装置包括：底板、平行设置于底板上两侧的两条导轨、跨设在两条导轨上的至少一条滑动机构、多束检测激光、控制系统以及设置于滑动机构上的至少一个光电位置传感器，控制系统在至少一个拼接区域中选取一条拼接线，并在拼接线上选取多个检测点；所述拼接线贯穿拼接区域的整个长度方向且拼接线为直线或曲线；所述检测点的数量为两个，且分别位于拼接线的两个端点；

当该拼接区域对应的所有检测激光为第一检测激光和第二检测激光，且该拼接区域对应的所有扫描系统为与第一检测激光配套的第一扫描系统，以及与第二检测激光配套的第二扫描系统，

该校准方法包括：

控制系统在该拼接区域中选取一条拼接线，并在拼接线上选取n个检测点，n＝2；

控制系统控制对应的光电位置传感器移动于多个检测点；且当某一光电位置传感器移动于某一检测点时，分别控制第一扫描系统和第二扫描系统进行偏转使得第一检测激光和第二检测激光依次入射该检测点；

获取所有光电位置传感器的检测信息并根据检测信息对第一扫描系统和第二扫描系统 进行校准；

其中，所述获取所有光电位置传感器的检测信息并根据检测信息对第一扫描系统和第二扫描系统 进行校准具体包括：

步骤11、控制系统控制对应光电位置传感器移动至拼接线上某一选定检测点，其坐标为(x_i，y_i)，第一扫描系统和第二扫描系统根据该坐标值偏转镜片角度，并依次开启第一检测激光和第二检测激光，且第一检测激光和第二检测激光分别经过对应的第一扫描系统作用和第二扫描系统后在相应电极上分别产生输出电流；

步骤12、控制系统根据该光电位置传感器反馈的输出电流分别计算第一检测激光的实际作用位置(△x_ai，△y_ai)和第二检测激光的实际作用位置(△x_bi，△y_bi)；

步骤13、重复步骤11和步骤12以遍历所有检测点，以得到一偏移坐标集{(△x_ai，△y_ai)、(△x_bi，△y_bi)}，i从1到n；

步骤14、当时，通过控制第一扫描系统和/或第二扫描系统的偏转，使得由第一检测激光和第一扫描系统生成的第一扫描平面和/或由第二检测激光和第二扫描系统生成的第二扫描平面进行旋转，以使拼接线上所有检测点对应的同一检测激光实际作用位置与光电位置传感器原点形成的线段相等且同向平行，所述线段方向是由光电位置传感器原点指向检测激光实际作用位置，或者所述线段方向是由检测激光实际作用位置指向光电位置传感器原点，所述ε为预设阈值；

步骤15、重复步骤13和14，直至且

2.如权利要求1所述的用于多激光多扫描系统的校准装置的校准方法，其特征在于，所述ε≤1/2σ，σ为成型时激光作用于原材料形成的熔池线宽。

3.如权利要求2所述的用于多激光多扫描系统的校准装置的校准方法，其特征在于，在步骤15执行后还包括：逐一计算第一检测激光和第二检测激光在同一检测点的实际作用位置与光电位置传感器原点之间的距离△δ_ai、△δ_bi，且当结束校准流程，否则，通过控制第一扫描系统和/或第二扫描系统的偏转，使得第一扫描平面和/或第二扫描平面进行平移以使△δ_ai≤ε、△δ_bi≤ε。/