[发明专利]元件位置检测方法和系统

权利要求书

1.一种元件位置检测方法，其特征在于，所述方法由元件位置检测系统执行，所述元件位置检测系统包括玻璃基板、光纤发射单元、光纤接收单元、数字光纤放大器、高速数字信号采集器和处理器；所述光纤发射单元与所述光纤接收单元对称设置，所述玻璃基本位于所述光纤发射单元与所述光纤接收单元之间，且与所述光纤发射单元、所述光纤接收单元不接触，所述光纤发射单元、所述光纤接收单元、所述数字光纤放大器、所述高速数字信号采集器与所述处理器电性连接；所述方法包括：

通过所述光纤发射单元发射光纤信号至所述光纤接收单元，并通过所述数字光纤放大器生成低电平信号；

若检测到所述玻璃基板在所述光纤发射单元和所述光纤接收单元之间移动的过程中所述玻璃基板上存在元件，则在检测到存在所述元件的时间内通过所述数字光纤放大器生成高电平信号；其中，所述元件的数量不止一个；

通过所述处理器根据所述低电平信号和所述高电平信号，生成信号图像；

通过所述处理器根据所述信号图像，确定所述元件在所述玻璃基板上位置的正确性。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过所述处理器根据所述信号图像，确定所述元件在所述玻璃基板上位置的正确性，包括：

若所述信号图像中当前所述高电平信号的上升沿与下降沿之间的距离等于所述元件的长度且当前所述高电平信号的下降沿与后一个所述高电平信号的上升沿之间的距离等于预设距离值，则当前所述高电平信号对应的所述元件在所述玻璃基板的位置是正确的。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过所述处理器根据所述信号图像，确定所述元件在所述玻璃基板上位置的正确性，还包括：

若所述信号图像中当前所述高电平信号的上升沿与下降沿之间的距离小于所述元件的长度，则当前所述高电平信号对应的所述元件在所述玻璃基板的位置是不正确的且所述元件在所述玻璃基板上的位置是倾斜的。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过所述处理器根据所述信号图像，确定所述元件在所述玻璃基板上位置的正确性，还包括：

若当前所述高电平信号的下降沿与后一个所述高电平信号的上升沿之间的距离大于预设距离值，则当前所述高电平信号对应的所述元件在所述玻璃基板上的位置是不正确的，且与后一个所述高电平信号对应的所述元件在所述玻璃基板上的距离大于标准距离值。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过所述处理器根据所述信号图像，确定所述元件在所述玻璃基板上位置的正确性，还包括：

若当前所述高电平信号的下降沿与后一个所述高电平信号的上升沿之间的距离小于预设距离值，则当前所述高电平信号对应的所述元件在所述玻璃基板上的位置是不正确的，且与后一个所述高电平信号对应的所述元件在所述玻璃基板上的距离小于标准距离值。

6.一种元件位置检测系统，其特征在于，所述系统包括：

玻璃基板、光纤发射单元、光纤接收单元、数字光纤放大器、高速数字信号采集器和处理器；

所述光纤发射单元与所述光纤接收单元对称设置，所述玻璃基本位于所述光纤发射单元与所述光纤接收单元之间，且与所述光纤发射单元、所述光纤接收单元不接触，所述光纤发射单元、所述光纤接收单元、所述数字光纤放大器、所述高速数字信号采集器与所述处理器电性连接；

所述光纤发射单元，用于发射光纤信号至所述光纤接收单元，并通过所述数字光纤放大器生成低电平信号；

所述玻璃基板，用于在所述玻璃基板上方放置元件，并在所述光纤发射单元和所述光纤接收单元之间移动；

所述数字光纤放大器，用于在检测到存在所述元件的时间内生成高电平信号；其中，所述元件的数量不止一个；

所述处理器，用于根据所述低电平信号和所述高电平信号，生成信号图像；

所述处理器，用于根据所述信号图像，确定所述元件在所述玻璃基板上位置的正确性。