[发明专利]一种光学信息检测系统

权利要求书

1.一种光学信息检测系统，其特征在于，包括：投影组件、投影屏、第一成像模组、光学信息检测装置；

所述投影组件，用于将投影图案投射至所述投影屏；

所述第一成像模组，用于采集投射至投影屏的第一图像，所述第一图像包括目标全场投影图案；

所述光学信息检测装置，用于接收第一成像模组采集的所述第一图像并对所述第一图像进行特征提取以得到第一特征信息；获取预设参考全场投影图案的第二特征信息、第一图形信息，所述图形信息包括零级信息和/或次级信息；计算所述第一特征信息和所述第二特征信息之间的第一映射关系；根据所述第一映射关系将所述第一图形信息映射至所述目标全场投影图案，得到所述目标全场投影图案对应的第二图形信息；根据所述第二图形信息，计算目标光学信息。

2.如权利要求1所述的光学信息检测系统，其特征在于，所述投影组件与所述第一成像模组分别设置于所述投影屏的两侧，或者所述投影组件与所述第一成像模组设置于所述投影屏的同侧。

3.如权利要求1所述的光学信息检测系统，其特征在于，所述第一成像模组的摄像头包括广角摄像头。

4.如权利要求1所述的光学信息检测系统，其特征在于，所述第一成像模组包括红外相机。

5.如权利要求1所述的光学信息检测系统，其特征在于，所述投影组件包括光源和衍射光学元件，所述衍射光学元件设于所述光源的出光路径上，所述衍射光学元件用于将所述光源产生的光投射至所述投影屏，以形成投影图案。

6.如权利要求5所述的光学信息检测系统，其特征在于，所述光源包括边发射激光器、垂直腔面发射激光器VCSEL、VCSEL阵列或发光二极管。

7.如权利要求1所述的光学信息检测系统，其特征在于，所述光学信息检测系统，还包括：标定图案投影仪，第二成像模组；

所述标定图案投影仪，用于将标定图案投射至投影屏上；

所述第一成像模组，用于采集第一标定图案；

所述第二成像模组，还用于采集第二标定图案；

所述光学信息检测装置，在根据所述第一映射关系将所述第一图形信息映射至所述目标全场投影图案，得到所述目标全场投影图案对应的第二图形信息之后，还用于获取由所述第

一成像模组采集的第一标定图案和所述第二成像模组采集的第二标定图案；计算所述第一标定图案和所述第二标定图案之间的第二映射关系；根据所述第二映射关系将所述第二图形信息映射至所述第二标定图案，得到所述第二标定图案的第三图形信息；根据所述第三图形信息，计算所述第二成像模组与所述投影组件的光轴夹角。

8.如权利要求1所述的光学信息检测系统，其特征在于，所述光学信息检测装置中包括的处理器的数量为一个或者多个。

9.如权利要求1所述的光学信息检测系统，其特征在于，所述投影屏为可显示标定图案器件；所述光学信息检测装置，还包括：第二成像模组；

所述投影组件，用于将投影图案投射至所述可显示标定图案器件；

所述第一成像模组，用于采集投射至所述可显示标定图案器件的第一图像，所述第一图像包括目标全场投影图案；

所述可显示标定图案器件，用于显示标定图案；

所述第一成像模组，用于采集第一标定图案；

所述第二成像模组，还用于采集第二标定图案；

所述光学信息检测装置，在根据所述第一映射关系将所述第一图形信息映射至所述目标全场投影图案，得到所述目标全场投影图案对应的第二图形信息之后，还用于获取由所述第一成像模组采集的第一标定图案和所述第二成像模组采集的第二标定图案；计算所述第一标定图案和所述第二标定图案之间的第二映射关系；根据所述第二映射关系将所述第二图形信息映射至所述第二标定图案，得到所述第二标定图案的第三图形信息；根据所述第三图形信息，计算所述第二成像模组与所述投影组件的光轴夹角。

10.如权利要求9所述的光学信息检测系统，其特征在于，所述可显示标定图案器件包括液晶标定板或者背光标定板，所述液晶标定板或者所述背光标定板上设置有标定图案，所述标定图案包括棋盘格或者圆点。