[发明专利]复合绝缘子的评价方法、评价装置、处理器和评价系统在审
| 申请号： | 202010699766.9 | 申请日： | 2020-07-17 |
| 公开（公告）号： | CN111812468A | 公开（公告）日： | 2020-10-23 |
| 发明（设计）人： | 张睿哲;周恺;叶宽;蔡瀛淼;杨亮;李春生 | 申请（专利权）人： | 国网北京市电力公司;国家电网有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/12 | 分类号： | G01R31/12 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 霍文娟 |
| 地址： | 100031 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 复合 绝缘子 评价 方法 装置 处理器 系统 | ||
1.一种复合绝缘子的评价方法，其特征在于，包括：
获取复合绝缘子的评价数据，所述评价数据包括闪络电压、表面侵蚀数据和内部侵蚀数据，所述闪络电压为所述复合绝缘子进行放电试验发生沿面闪络时的电压，所述表面侵蚀数据和所述内部侵蚀数据为所述复合绝缘子进行放电试验后检测侵蚀部位得到的数据；
根据所述评价数据生成评价报告。
2.根据权利要求1所述的评价方法，其特征在于，所述表面侵蚀数据包括表面副产物含量，所述内部侵蚀数据包括侵蚀深度和侵蚀面积比，所述侵蚀面积比为所述复合绝缘子的截面中裂纹面积与截面面积之比。
3.根据权利要求1所述的评价方法，其特征在于，根据所述评价数据生成评价报告，包括：
根据所述闪络电压确定所述复合绝缘子的表面耐电痕性的等级。
4.根据权利要求1所述的评价方法，其特征在于，根据所述评价数据生成评价报告，包括：
根据所述表面侵蚀数据和所述内部侵蚀数据确定所述复合绝缘子的抗性的等级。
5.一种复合绝缘子的评价装置，其特征在于，包括：
获取单元，用于获取复合绝缘子的评价数据，所述评价数据包括闪络电压、表面侵蚀数据和内部侵蚀数据，所述闪络电压为所述复合绝缘子进行放电试验发生沿面闪络时的电压，所述表面侵蚀数据和所述内部侵蚀数据为所述复合绝缘子进行放电试验后检测侵蚀部位得到的数据；
生成单元，用于根据所述评价数据生成评价报告。
6.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质包括存储的程序，其中，所述程序执行权利要求1至4中任意一项所述的评价方法。
7.一种处理器，其特征在于，所述处理器用于运行程序，其中，所述程序运行时执行权利要求1至4中任意一项所述的评价方法。
8.一种评价系统，包括放电试验装置和复合绝缘子的评价装置，其特征在于，所述放电试验装置用于对复合绝缘子进行放电试验，所述评价装置用于执行权利要求1至4中任意一项所述的复合绝缘子的评价方法。
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