[发明专利]温度检测方法及装置

权利要求书

1.温度检测方法，其特征在于，包括：

获取红外探测器针对测温目标所采集到的红外图像，其中，所述红外图像包括有至少一个像元；

确定采集所述红外图像时所述测温目标所处环境的环境温度；

针对所述红外图像所包括的每一个所述像元，均执行：

将该像元的像元值确定为第一像元值；

根据与所述红外探测器相对应的漂移参数，对所述第一像元值进行漂移校正，获得第二像元值；

根据所述环境温度和所述第二像元值，确定该像元的输出温度；

根据所述红外图像中各个像元的所述输出温度，确定所述测温目标的温度；

根据所述红外探测器标定的热漂移参数，对所述第一像元值进行漂移校正，获得第二像元值，包括：

获取所述红外探测器标定的热漂移参数，其中，所述热漂移参数包括热梯度、热偏移和热系数；

根据所述热梯度、所述热偏移和所述热系数，通过如下第一公式对所述第一像元值进行热漂移校正，获得第三像元值；

所述第一公式包括：

其中，所述V_{ij_Comp}用于表征所述第三像元值，所述V_ij用于表征所述第一像元值，所述ThGrad_ij用于表征所述热梯度，存储在EEPROM中，所述ThOffset_ij用于表征所述热偏移，存储在EEROM中，所述gradScale用于表征热系数，存储在EEPROM中，所述PTAT_av用于表征平均像元值；

根据所述第三像元值确定所述第二像元值。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第三像元值确定所述第二像元值，包括：

获取所述红外探测器针对该像元输出的电漂移参数，其中，所述电漂移参数包括电漂移；

如果该像元位于所述红外图像的上半部分，则通过如下第二公式，对所述第三像元值进行电漂移校正，获得第四像元值；

所述第二公式包括：

如果该像元位于所述红外图像的下半部分，则通过如下第三公式，对所述第三像元值进行电漂移校正，获得第四像元值；

所述第三公式包括：

其中，所述用于表征所述第四像元值，所述elOffset[i，j]用于表征所述电漂移，所述mod(·)用于表征求余函数，所述N用于表征像元的列数；

根据所述第四像元值确定所述第二像元值。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述第四像元值确定所述第二像元值，包括：

获取所述红外探测器标定的供电电压参数，其中，所述供电电压参数包括供电电压补偿梯度和供电电压补偿漂移；

如果该像元位于所述红外图像的上半部分，则通过如下第四公式，对所述第四像元值进行供电电压校正，获得第五像元值；

所述第四公式包括：

如果该像元位于所述红外图像的下半部分，则通过如下第五公式，对所述第四像元值进行供电电压校正，获得第五像元值；

所述第五公式包括：

其中，所述V_{ij_VDDComp}用于表征所述第五像元值，所述VddCompGrad[i，j]用于表征所述供电电压补偿梯度，所述VddCompOff[i，j]用于表征所述供电电压补偿漂移，所述VDD_av用于表征测量的平均供电电压，所述VddScGrad、VddScOff用于表征归一化系数，所述VDD_TH1用于表征校正1的供电电压，所述VDD_TH2校正2的供电电压，所述PTAT_av用于表征平均像元值，所述PTAT_TH1用于表征校正1的平均像元值，所述PTAT_TH2用于表征校正2的平均像元值；

根据所述第五像元值确定所述第二像元值。