[发明专利]一种提高检测效率和准确度的指纹识别芯片测试方法在审
申请号: | 202010708699.2 | 申请日: | 2020-07-21 |
公开(公告)号: | CN111985337A | 公开(公告)日: | 2020-11-24 |
发明(设计)人: | 王锐;娄建和 | 申请(专利权)人: | 江苏艾科半导体有限公司 |
主分类号: | G06K9/00 | 分类号: | G06K9/00;G06K9/62;G06F16/583 |
代理公司: | 南京申云知识产权代理事务所(普通合伙) 32274 | 代理人: | 田沛沛;邱兴天 |
地址: | 212000 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 提高 检测 效率 准确度 指纹识别 芯片 测试 方法 | ||
本发明公开一种提高检测效率和准确度的指纹识别芯片测试方法,采用从中心点向外螺旋散开的仿真指纹形状,配合简化的指纹端点特征比较法,即通过简化的指纹硅胶形状与简化算法相结合,从而使得检测算法能够快速迭代收敛,减少识别时间,快速地测试指纹芯片,提高了指纹识别芯片的测试效率和准确度。本发明可自动保存测试log文件,在软件中即可查看生成的log文件的数据,方便用户检查以及查看,大大减少了人力,提高了效率。
技术领域
本发明属于指纹识别芯片测试技术领域,具体涉及一种提高检测效率和准确度的指纹识别芯片测试方法。
背景技术
现有技术中,检测指纹识别芯片所用的测试算法为总体特征算法,总体特征是指那些用人眼直接就可以观察到的特征,它包括:1、基本纹型;2、模式区(Pattern Area);3、核心点(Core Point);4、三角点(Delta);5、式样线(Type Lines);6、纹数(Ridge Count),总体特征测试算法过于繁杂,测试时间过长,增加了测试成本;在后续使用测试程序的过程中会出现问题,可能出现写入错误信息或者对信息有所遗漏,误测率较高,需要工程师重新启动测试程序,占用时间长,整体上降低了测试效率和准确率。
发明内容
本发明解决的技术问题:现有的测试算法,测试效率和准确率低。
技术方案:为了解决上述技术问题,本发明采用的技术方案如下:
一种提高检测效率和准确度的指纹识别芯片测试方法,采用从中心点向外螺旋散开的仿真指纹形状,配合简化的指纹端点特征比较法,实现快速测试指纹芯片。
包括以下步骤:
S1:仿真人手手指采用简化纹路,简化指纹特征点;
S2:录入指纹:先捕捉指纹印象,根据端点特征进行数据提取,存入指纹特征数据库中;
S3:采用距离判断法进行特征点匹配;
S4:识别指纹:先读取指纹印象,提取指纹端点特征数据,与指纹特征库中的数据进行搜索比对,并判别所测芯片的测试结果。
进一步地,步骤S1中,所述仿真人手手指为导电硅胶制成,所述简化纹路是从中心点向外螺旋散开形状的纹路。
进一步地,步骤S2中,首先,遍历细化图中的每一个像素点,判断是否为端点,并对端点进行光滑处理,最后获取相应特征点的数据放入指纹数据库中。
进一步地,端点的判别方法为:八领域点两两相减取绝对值求和,如果值为2则为端点,把找到的端点位置存储在特征点存储矩阵中(有3列),即仅y中(Nx3),第一列存储x的位置,第二列存储y的位置,第三列标识点的类别,然后对纹线再次进行光滑处理。
进一步地,找到每个端点,使其沿着纹线的方向移动五个像素,如果在五个像素之内遇到交叉点则此点为毛刺,去除此点,采用walk函数判断离端点num个距离内是否有另一个端点,判断的主要方法是为:先将该点置为0,然后根据八领域点,和为0或大于2则证明该点距离num内有端点,然后循环向前遍历,最后获取相应特征点的数据放入指纹数据库中。
进一步地,步骤S3的具体方法为:找到圆心点与螺纹终点特征点,从特征点沿着纹线走num个距离,并计算出每走一步后与该特征点的距离,最后得到装有长度信息的数组,如果两幅指纹相同,则他们含有相同的特征点,而且得到的数组对应的位置的数据基本相等。
进一步地,步骤S4中,如果所读取的指纹与之前预存在指纹数据库中的指纹进行比较后,特征点能够匹配,那么测试结果为通过,否则为不通过。
进一步地,具体测试步骤为:
1)操作系统及配置软件正常设置;
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