[发明专利]用于功率干扰指示的测量设备及其操作方法

权利要求书

1.一种测量设备，包括：

外壳，所述外壳的尺寸和形状被设定成握持在手中；

一组传感器，所述一组传感器被配置为感测绝缘导线中的电信号的一组电特性而不与所述绝缘导线电接触，其中所述一组传感器在一段测量时间间隔内获得相应的测量结果，使得成对的测量结果彼此对应；

显示器，所述显示器设置在所述外壳上；和

位于所述外壳中的一个或多个处理器，所述一个或多个处理器操作地耦接到所述一组传感器，其中在操作中，所述一个或多个处理器：

从所述一组传感器接收由所述一组传感器在测量时间间隔期间获得的一组测量结果，所述一组测量结果指示所述绝缘导线中的所述电信号的所述一组电特性；

基于所述一组测量结果来检测与所述绝缘导线中的所述电信号相关联的限定缺陷；以及

响应于检测到所述限定缺陷，在所述显示器上显示表示与所述绝缘导线中的所述电信号相关联的所述限定缺陷的缺陷指示器。

2.根据权利要求1所述的测量设备，其中所述一组传感器包括：

电压传感器，所述电压传感器位于所述外壳中，在操作中，所述电压传感器感测所述绝缘导线中的电压而不与所述绝缘导线电接触；和

电流传感器，所述电流传感器位于所述外壳中，在操作中，所述电流传感器感测所述绝缘导线中的电流而不与所述绝缘导线电接触。

3.根据权利要求1所述的测量设备，其中所述缺陷指示器是多个缺陷指示器中的一个缺陷指示器，所述多个缺陷指示器包括各自表示与所述电信号相关联的电压缺陷的第一组缺陷指示器和各自表示与所述电信号相关联的电流缺陷的第二组缺陷指示器。

4.根据权利要求1所述的测量设备，其中所述一个或多个处理器在操作中被配置为检测与所述电信号相关联的多个限定缺陷，并且所述限定缺陷是所述多个限定缺陷中的一个限定缺陷。

5.根据权利要求1所述的测量设备，其中所述一个或多个处理器在操作中使得所述显示器在所述显示器中的限定区域中显示所述缺陷指示器。

6.根据权利要求1所述的测量设备，其中所述缺陷指示器指示在所述电信号中检测到的缺陷状况的类型。

7.根据权利要求1所述的测量设备，其中在操作中，所述一个或多个处理器评估所述一组测量结果中的测量结果是否满足多个状况中的状况，所述多个状况中的每个状况与多个缺陷指示器中的对应缺陷指示器相关联，

其中所述限定缺陷的检测基于确定所述一组测量结果中的一个或多个测量结果满足所述状况，并且所显示的所述缺陷指示器与所述状况相关联。

8.根据权利要求7所述的测量设备，其中所述多个状况包括选自以下的两个或更多个状况：具有标称电平的差值、波形失真、超过可接受偏差的变化、信号干扰事件、两个或更多个电信号之间的信号不平衡以及功率因数缺陷。

9.根据权利要求7所述的测量设备，其中所述状况为与多个限定信号电平中的限定信号电平的偏差相关的信号偏差状况，并且在操作中，所述一个或多个处理器：

确定在所述测量时间间隔期间获得的所述一组测量结果与针对所述一组电特性中的电特性的检测到的限定信号电平之间的差值满足所述信号偏差状况；以及

由于确定所述差值满足所述信号偏差状况，使得所述显示器显示与所述信号偏差状况相关联的所述缺陷指示器。

10.根据权利要求7所述的测量设备，其中所述状况是谐波失真状况，并且在操作中，所述一个或多个处理器：

基于所述一组测量结果来计算与所述电信号相关联的谐波失真；

确定所述谐波失真满足所述谐波失真状况；以及

由于确定所述谐波失真满足所述谐波失真状况，使得所述显示器显示与所述谐波失真状况相关联的缺陷指示器。