[发明专利]磁盘装置有效
申请号: | 202010709420.2 | 申请日: | 2020-07-22 |
公开(公告)号: | CN113345475B | 公开(公告)日: | 2023-01-17 |
发明(设计)人: | 冈田未央;渡边彻;小泉岳;友田悠介 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社 |
主分类号: | G11B5/60 | 分类号: | G11B5/60;G11B5/00 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 张洁;段承恩 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 磁盘 装置 | ||
实施方式提供能够在抑制用于辅助功能的元件的劣化的发展并且维持读写特性的同时继续使用的磁盘装置。根据实施方式,磁盘装置具备:磁盘;磁头,其包括辅助向所述磁盘记录数据的辅助部;控制部,其基于记录条件来控制所述磁头的数据记录;以及存储器,其存储第1阈值,该第1阈值是规定所述辅助部所包含的辅助元件处于劣化状态的阈值。另外,所述控制部检测所述辅助元件的状态,基于该检测的状态和存储于所述存储器的所述第1阈值,判定是否变更所述记录条件,并根据其判定结果,变更所述记录条件。
本申请享受以日本专利申请2020-34865号(申请日:2020年3月2日)为基础申请的优先权。本申请通过参照该基础申请而包括基础申请的全部内容。
技术领域
实施方式涉及磁盘装置。
背景技术
已知组装了具有辅助(assist)功能的磁头的磁盘装置。辅助功能是在写入(write,写)数据时用使用高频振荡元件产生的高频和/或使用近场光元件产生的近场光来提高写性能的功能。在这种磁盘装置中,若不断使用这些元件进行写入数据的动作,则高频振荡元件或者近场光元件会不断劣化(劣化发展)。如此,当高频振荡元件或者近场光元件产生经年劣化(随时间的劣化)时,读写特性会恶化,因而会导致磁盘装置的数据读写性能的降低。
在磁盘装置中,在能看出高频振荡元件或者近场光元件趋于劣化的情况下,通过停止辅助功能或者限制辅助量,能够抑制这些元件的劣化发展。
然而,在如上所述那样停止辅助功能或者限制辅助量的情况下,由于该影响而无法维持读写特性,磁盘装置的数据读写性能会降低。另外,在虽然未见到上述的元件的劣化的倾向但是能看出误比特率(bit error ratio,误码率)趋于恶化的情况下,若仍然继续进行写动作,也容易发生读写故障,磁盘装置的数据读写性能会降低。
发明内容
本发明的实施方式提供能够在抑制用于辅助功能的元件的劣化的发展并且维持读写特性的同时继续使用的磁盘装置。
一个实施方式涉及的磁盘装置具备:磁盘;磁头,其包括辅助向所述磁盘记录数据的辅助部;控制部,其基于记录条件来控制所述磁头的数据记录;以及存储器(memory),其存储第1阈值,该第1阈值是规定所述辅助部所包含的辅助元件处于劣化状态的阈值。另外,所述控制部检测所述辅助元件的状态,基于该检测的状态和存储于所述存储器的所述第1阈值,判定是否变更所述记录条件,并根据其判定结果,变更所述记录条件。
附图说明
图1是表示第1实施方式涉及的磁盘装置的构成的一例的图。
图2是表示该实施方式涉及的磁头的构造的一例的剖视图。
图3的(a)和(b)是用于对该实施方式涉及的磁头的悬浮量(上浮量)的调整进行说明的图。
图4是表示该实施方式涉及的电阻值的时间轴数据的一例的图。
图5是表示该实施方式涉及的误比特率的测定结果的一例的图。
图6是用于对该实施方式涉及的电阻值的变化的一例进行说明的图。
图7是表示该实施方式涉及的相对于间隔(spacing,间距)的误比特率的关系映射(map)的一例的图。
图8是表示该实施方式涉及的相对于热致动器施加量的头-介质间间隔的关系映射的一例的图。
图9是表示第2实施方式涉及的相对于间隔的误比特率的关系映射的一例的图。
图10是表示该实施方式涉及的相对于头-介质间间隔的磁头寿命(使用寿命)的关系映射的一例的图。
图11是用于对第3实施方式涉及的两个阶段(等级)的阈值进行说明的图。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社,未经株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
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