[发明专利]一种太阳能电池以及制作方法有效
申请号: | 202010709932.9 | 申请日: | 2020-07-22 |
公开(公告)号: | CN111785806B | 公开(公告)日: | 2021-12-21 |
发明(设计)人: | 张策;朱鸿根;郭文辉;吴志明;张雷;翁妹芝;吴真龙 | 申请(专利权)人: | 扬州乾照光电有限公司 |
主分类号: | H01L31/0725 | 分类号: | H01L31/0725;H01L31/18 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 尹秀 |
地址: | 225101*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 太阳能电池 以及 制作方法 | ||
1.一种太阳能电池,其特征在于,包括:层叠的第一子电池、第一隧穿结层、第二子电池、第二隧穿结层、第三子电池以及位于所述第一隧穿结层和所述第二子电池之间的变质缓冲层,所述变质缓冲层包括至少两层缓冲层和位于所述至少两层缓冲层背离所述第一子电池一侧的过冲层,所述至少两层缓冲层中各缓冲层的晶格常数位于所述第一子电池和所述第二子电池的晶格常数之间;
其中,所述变质缓冲层包括至少两层缓冲层和位于所述至少两层缓冲层背离所述第一子电池一侧的过冲层,所述至少两层缓冲层包括层叠的第一缓冲层和第二缓冲层,所述第二缓冲层形成时预设化合物的摩尔比大于所述第一缓冲层形成时预设化合物的摩尔比,所述过冲层形成时预设化合物的摩尔比大于所述至少两层缓冲层中各缓冲层形成时预设化合物的摩尔比;所述预设化合物的摩尔比为五族源与三族源的摩尔比。
2.根据权利要求1所述的太阳能电池,其特征在于,所述至少两层缓冲层中各缓冲层包括两层子缓冲层,靠近所述第二子电池的子缓冲层形成时预设化合物的摩尔比大于靠近所述第一子电池的子缓冲层形成时预设化合物的摩尔比。
3.根据权利要求1所述的太阳能电池,其特征在于,所述至少两层缓冲层中各缓冲层形成时预设化合物的摩尔比沿所述第一子电池至所述第二子电池方向逐渐增大。
4.根据权利要求1-3任一项所述的太阳能电池,其特征在于,所述变质缓冲层形成时五族源与三族源的摩尔比的取值范围为10~100,包括端点值。
5.根据权利要求1所述的太阳能电池,其特征在于,所述变质缓冲层中各缓冲层为InGaAs层或InGaP层。
6.根据权利要求1所述的太阳能电池,其特征在于,所述变质缓冲层中各缓冲层为AlInGaAs层或AlInGaP层。
7.根据权利要求1-3、5-6任一项所述的太阳能电池,其特征在于,所述变质缓冲层中各缓冲层的厚度取值范围为200nm~500nm,包括端点值。
8.一种太阳能电池的制作方法,其特征在于,包括:
制作第一子电池;
在所述第一子电池第一侧表面形成第一隧穿结层;
在所述第一隧穿结层背离所述第一子电池一侧形成变质缓冲层;
在所述变质缓冲层背离所述第一子电池一侧依次形成第二子电池、第二隧穿结层和第三子电池;
其中,所述变质缓冲层包括至少两层缓冲层和位于所述至少两层缓冲层背离所述第一子电池一侧的过冲层,所述至少两层缓冲层包括层叠的第一缓冲层和第二缓冲层,所述第二缓冲层形成时预设化合物的摩尔比大于所述第一缓冲层形成时预设化合物的摩尔比,所述过冲层形成时预设化合物的摩尔比大于所述至少两层缓冲层中各缓冲层形成时预设化合物的摩尔比;所述预设化合物的摩尔比为五族源与三族源的摩尔比。
9.根据权利要求8所述的制作方法,其特征在于,在所述第一隧穿结层背离所述第一子电池一侧表面形成变质缓冲层包括:
在所述第一隧穿结层背离所述第一子电池一侧表面依次形成至少两层缓冲层;
在所述至少两层缓冲层背离所述第一隧穿结层一侧表面形成过冲层;
其中,所述至少两层缓冲层中各缓冲层包括两层子缓冲层,靠近所述第二子电池的子缓冲层形成时预设化合物的摩尔比大于靠近所述第一子电池的子缓冲层形成时预设化合物的摩尔比。
10.根据权利要求8所述的制作方法,其特征在于,在所述第一隧穿结层背离所述第一子电池一侧表面形成变质缓冲层包括:
在所述第一隧穿结层背离所述第一子电池一侧表面依次形成至少两层缓冲层;
在所述至少两层缓冲层背离所述第一隧穿结层一侧表面形成过冲层;
其中,所述至少两层缓冲层中各缓冲层形成时预设化合物的摩尔比沿所述第一子电池至所述第二子电池方向逐渐增大。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于扬州乾照光电有限公司,未经扬州乾照光电有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010709932.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的