[发明专利]一种基于参考轨道的高精度半长轴衰减确定方法有效
申请号: | 202010710869.0 | 申请日: | 2020-07-22 |
公开(公告)号: | CN111811519B | 公开(公告)日: | 2022-06-24 |
发明(设计)人: | 杨盛庆;贾艳胜;王禹;陈秀梅;王文妍;朱郁婓;崔佳;王嘉轶 | 申请(专利权)人: | 上海航天控制技术研究所 |
主分类号: | G01C21/24 | 分类号: | G01C21/24;B64G1/24 |
代理公司: | 上海元好知识产权代理有限公司 31323 | 代理人: | 张妍;周乃鑫 |
地址: | 201109 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 参考 轨道 高精度 半长轴 衰减 确定 方法 | ||
1.一种基于参考轨道的高精度半长轴衰减确定方法,其特征在于,使用经在轨使用和维护的参考轨道作为基准和控制目标,确定触发基于参考轨道采样点的导航计算的时序逻辑,在轨采用参考轨道采样点的参数形式进行定周期的导航计算,对导航数据进行时空基准转换,建立以参考轨道采样点为原点的虚拟编队坐标系并进行航迹向补偿,对补偿后的虚拟编队坐标系数据进行高精度几何处理,对导航结果的进行稳定性判断,保护数据的有效稳定;
所述的确定触发基于参考轨道采样点的导航计算的时序逻辑的方法包含:
由绝对导航使用的量纲为秒的导航滤波时刻tGNSS和第一个参考轨道采样点的历元t0,假设参考轨道的回归周期为K天,计算当前星时所处的第N个回归周期的序号数:
N=fix[(tGNSS-t0)/(86400×K)]
其中,函数fix(x)表示取变量整数部分;
计算在当前回归周期内,所处的采样点段:
M=fix[((tGNSS-t0)-K×N×86400)/T]
得到控制目标需要参考的采样点序号M+1,目标的WGS84地固系位置和速度PVref,WGS84(M+1),相应的时间为:
t(M+1)=t0+M×T;
当导航滤波时刻满足||(tGNSS-K×N×86400-t(M+1))||0.6s,触发基于参考轨道采样点的导航计算。
2.如权利要求1所述的基于参考轨道的高精度半长轴衰减确定方法,其特征在于,对参考轨道进行在轨使用和维护的方法包含:
参考轨道按采样点的形式作为星载软件的参数存储于星载计算机,采样点采用等时间间隔的方式存储WGS84地固系位置和速度PVref,WGS84;
PVref,WGS84=[xref,WGS84,yref,WGS84,zref,WGS84,vxref,WGS84,vyref,WGS84,vzref,WGS84]T;
采样点时间间隔为T,量纲为秒;
考虑到回归轨道的周期回归特性,仅存储一个回归周期内的参考轨道采样点,以及第一个参考轨道采样点的历元信息t0,量纲为秒;
通过调整第一个参考轨道采样点的历元信息,根据实际入轨情况进行目标状态的调整。
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