[发明专利]锁紧机构及具有锁紧机构的测试装置在审
申请号: | 202010711223.4 | 申请日: | 2020-07-22 |
公开(公告)号: | CN111856084A | 公开(公告)日: | 2020-10-30 |
发明(设计)人: | 吴柯琦;陈文卓;程高飞;宋昊 | 申请(专利权)人: | 杭州长川科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04 |
代理公司: | 杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250 | 代理人: | 蒋豹 |
地址: | 310051 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 机构 具有 测试 装置 | ||
本发明提供一种锁紧机构及具有锁紧机构的测试装置,所述锁紧机构包括架体、锁紧组件以及限位组件,所述锁紧组件安装于所述架体上,所述限位组件盖设于所述架体,所述锁紧组件包括驱动件、传动单元以及锁紧件,所述驱动件连接于所述传动单元,所述传动单元连接于所述锁紧件,所述限位组件包括限位件,所述限位件上开设滑动槽,所述锁紧件部分能够伸入所述滑动槽内,所述驱动件通过所述传动单元带动所述锁紧件在所述滑动槽内移动,所述锁紧件通过在所述滑动槽内滑动,朝向所述架体压紧所述限位件;通过设置锁紧组件以及限位组件,所述锁紧机构能够将受测头稳定的安装在受测装置上,并通过锁紧机构中的驱动件,实现自动锁紧与解锁的功能。
技术领域
本发明涉及测试装置领域,特别是涉及一种锁紧机构及具有锁紧机构的测试装置。
背景技术
现有的测试集成电路的过程中,常采用受测设备(DUT,Device Under test)与测试头配合的方式对集成电路进行测试;在大型的测试头上安装有弹簧针模块,测试时将需要将受测设备安装于测试头,因此需要克服弹簧针模块的弹力问题。
发明内容
有鉴于此,有必要提供一种锁紧机构,该锁紧机构通过锁紧组件以及限位组件的设置,锁紧组件中的卡接轴卡接于限位组件上的滑动槽,并在滑动槽内滑动,使得受测装置和测试头能够锁紧牢固,且使得测试电路板更加自动化,解放人力,应用该锁紧机构的测试装置具有更广泛的应用前景。
本发明提供一种锁紧机构,所述锁紧机构包括架体、锁紧组件以及限位组件,所述锁紧组件安装于所述架体上,所述限位组件盖设于所述架体,所述锁紧组件包括驱动件、传动单元以及锁紧件,所述驱动件连接于所述传动单元,所述传动单元连接于所述锁紧件,所述限位组件包括限位件,所述限位件上开设滑动槽,所述锁紧件部分能够伸入所述滑动槽内,所述驱动件通过所述传动单元带动所述锁紧件在所述滑动槽内移动,所述锁紧件通过在所述滑动槽内滑动,朝向所述架体压紧所述限位件。
如此设置,通过设置锁紧组件以及限位组件,所述锁紧机构能够将受测头稳定的安装在受测装置上,并通过锁紧机构中的驱动件,实现自动锁紧与解锁的功能。
为了使得限位件能够与锁紧件配合锁紧,且使得限位件与锁紧件稳定锁紧,所述限位件上的所述滑动槽相对限定件倾斜设置,且所述滑动槽一端相对靠近所述架体,另一端相对远离所述架体;且所述滑动槽相对靠近所述架体的端部朝向所述锁紧组件的侧壁开设有导口。
如此设置,所述锁紧件通过所述导口进入所述滑动槽内,所述限位件通过倾斜设置的滑动槽与锁紧件配合,使得锁紧件在滑动槽内移动时,限位件能够与锁紧件配合锁紧。
为了使得锁紧件能够与锁紧条配合,所述锁紧件上设置有卡接轴,所述卡接轴通过所述导口伸入所述滑动槽内,并能够在所述滑动槽内滑动。
如此设置,所述锁紧架能通过卡接轴在所述滑动槽内滑动。
为了使得卡接轴与限位件稳定配合,所述锁紧件还包括轴承,所述锁紧件上设置多个卡接轴,所述限位件上对应开设有多个所述滑动槽,所述轴承套设于所述卡接轴,所述滑动槽沿所述限位件的长度方向等间距设置,所述卡接轴通过所述轴承在所述滑动槽中滚动。
如此设置,通过设置多个卡接轴与滑动槽对应设置,卡接轴通过轴承在滑动槽内滑动,使得卡接轴与滑动槽滚动接触,所述卡接轴与限位件能够稳定配合。
为了使得驱动件的驱动动作传递到锁紧件,所述传动单元包括连接杆、转动件以及传动件,所述转动件转动安装于所述架体,所述驱动件连接于所述连接杆,所述连接杆转动连接于所述转动件,所述转动件转动连接于所述传动件,所述传动件转动安装于所述锁紧件。
如此设置,使得驱动件通过传动单元的连接杆、转动件以及传动件,将驱动动作传递至锁紧件,实现锁紧件的锁紧与解锁。
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