[发明专利]一种墙面垂直度与平整度的测量方法在审

专利信息
申请号: 202010714126.0 申请日: 2020-07-22
公开(公告)号: CN111780734A 公开(公告)日: 2020-10-16
发明(设计)人: 杨伦;徐明坤;喻超;王泽良;兰朝杰 申请(专利权)人: 四川省第十一建筑有限公司
主分类号: G01C15/12 分类号: G01C15/12;G01D21/02
代理公司: 成都智言知识产权代理有限公司 51282 代理人: 濮云杉
地址: 643000 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 墙面 垂直 平整 测量方法
【权利要求书】:

1.一种墙面垂直度与平整度的测量方法,其特征在于,包括如下步骤:

步骤A:在墙面的一侧设置全站仪自由测点0’,建立自由坐标系X’O’Y’,并使得墙面的四个角点均落在全站仪的测量范围内,其中位于墙面的顶部点分别为A点和D点,位于墙面的底部点分别为B点和C点;

步骤B:建立标准坐标系XOY,标准坐标系XOY的X轴平行于墙面,标准坐标系的XOY的Y轴垂直于墙面;

步骤C:使用全站仪分别采集四个角点在自由坐标系中的坐标(Xn’,Yn’);

步骤D:将四个角在自由坐标系中的坐标(Xn’,Yn’)转化成标准坐标系中的坐标(Xn,Yn)

步骤E:计算墙面的垂直度偏差值为θ=(Ya+Yd)/2-(Yb+Yc)/2,计算测点间距L=(Xa+Xd)/2-(Xb+Xc)/2

则墙面的垂直度为:M=θ/L。

2.根据权利要求1所述的一种墙面垂直度与平整度的测量方法,其特征在于:步骤D中具体包括:

D1:用全站仪检测标准坐标系XOY的原点O在自由坐标系X’O’Y’中的坐标(Xo’,Yo’);

D2:用全站仪检测标准坐标系XOY中X轴上任意一点P在自由坐标系X’O’Y’中的坐标(Xp’,Yp’);

D3:计算直线OP在自由坐标系X’O’Y’中的方位角αop,两坐标系间的旋转参数α=αop,确定两坐标系间的平移参数a=Xo’,b=Yo’;

D4:运用转换公式Xn=cosα(Xn’-a)-sinα(Yn’-b),Yn=sinα(Xn’-a)-cosα(Yn’-b)将自由坐标系中的坐标(Xn’,Yn’)。

3.根据权利要求2所述的一种墙面垂直度与平整度的测量方法,其特征在于,所述步骤D3中计算直线OP在自由坐标系X’O’Y’中的方位角αop的方法如下:

OP的象限角θop=arctan((Yp’-Yo’)/(Xp’-Xo’));

当Xp’-Xo’≥0,Yp’-Yo’≥0时,αop=θop;

当Xp’-Xo’0,Yp’-Yo’≥0时,αop=θop+180°;

当Xp’-Xo’0,Yp’-Yo’0时,αop=θop+180°;

当Xp’-Xo’≥0,Yp’-Yo’0时,αop=θop+360°。

4.根据权利要求1所述的一种墙面垂直度与平整度的测量方法,其特征在于:所述步骤E中还包括计算墙面的平整度,当Yn0时,平整度=Yn+d,当Yn0时,平整度=Yn-d,其中d为标准坐标系XOY的原点O在Y轴上离墙面的距离。

5.根据权利要求1所述的一种墙面垂直度与平整度的测量方法,其特征在于:所述步骤C中具体包括如下步骤:制作测量角尺,测量角尺两侧边分别设有气泡和反射片,将测量角尺贴合墙面并将反射片抵靠各角点,调整各角点测量角尺至气泡位于水平位置,采用全站仪分别测量四个角点在自由坐标系中的坐标(Xn’,Yn’)。

6.根据权利要求1所述的一种墙面垂直度与平整度的测量方法,其特征在于:所述全站仪远离墙面的距离不小于墙面高度的1.5倍。

7.根据权利要求1所述的一种墙面垂直度与平整度的测量方法,其特征在于:所述全站仪为红外线全站仪。

8.根据权利要求1所述的一种墙面垂直度与平整度的测量方法,其特征在于:所述步骤B中,标准坐标系XOY的原点O与墙面的一个角点重合。

9.根据权利要求1所述的一种墙面垂直度与平整度的测量方法,其特征在于:所述全站仪的目镜为弯管目镜。

10.根据权利要求1所述的一种墙面垂直度与平整度的测量方法,其特征在于:所述步骤D中具体包括:所述全站仪的测角精度为2”,测距精度为2+2Dppm。

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