[发明专利]一种PCI-E测试卡

说明书

本发明涉及电子测试技术领域，尤其涉及一种PCI‑E测试卡，包括微处理器、电源接口电路、开短路测试电路、电阻测试电路、电压测试电路、IO扩展电路、RS485通讯电路、USART通讯电路、Micro‑USB接口电路、PCI‑E接口电路、JTAG接口电路、拨码开关；本发明不仅能够同时对主板、显卡等进行开短路测试、电阻测试、电压测试，还能对主板、显卡等进行通讯功能测试，测试种类齐全，能够同时测试多种数据，操作简单、测试效率高，适用范围广，实用性强。

技术领域：

本发明涉及电子测试技术领域，尤其涉及一种PCI-E测试卡。

背景技术：

PCI-E(peripheral component interconnect express)是一种高速串行计算机扩展总线标准，它原来的名称为“3GIO”，是由英特尔在2001年提出的，旨在替代旧的PCI，PCI-X和AGP总线标准。PCI-E属于高速串行点对点双通道高带宽传输，所连接的设备独享分配通道带宽，主要支持主动电源管理，错误报告，端对端的可靠性传输，热插拔以及服务质量(QOS)等功能，主要优势在于数据传输速率高，而且还有相当大的发展潜力。

在工业生产中为了确保主板、显卡等不存在异常，在投入使用前都需要进行详细的测试。目前市场上存在的电阻测试仪、开短路测试仪等相关测试仪器大多功能单一，无法同时测试多种数据。将待测试主板、显卡等经由电阻测试仪、开短路测试仪等各种测试仪器测试，不仅操作较为麻烦，而且测试效率低下。

发明内容：

本发明的目的就是针对现有技术存在的不足而提供一种PCI-E测试卡，测试种类齐全，能够同时测试多种数据，操作简单、测试效率高，适用范围广，实用性强。

为了实现上述目的，本发明采用的技术方案是：一种PCI-E测试卡，包括微处理器、电源接口电路、开短路测试电路、电阻测试电路、电压测试电路、IO扩展电路、RS485通讯电路、USART通讯电路、Micro-USB接口电路、PCI-E接口电路、JTAG接口电路、拨码开关；所述电源接口电路包括电源接口，电源接口电路的输出端与微处理器的电源输入端电连接；所述开短路测试电路，用于测试主板的开短路，开短路测试电路与微处理器电连接；所述电阻测试电路，用于测试主板的电阻，电阻测试电路与微处理器电连接；所述电压测试电路，用于测试主板的电压，电压测试电路与微处理器电连接；所述IO扩展电路，用于IO接口的扩展，IO扩展电路与微处理器双向连接；所述RS485通讯电路包括RS485接口，用于测试卡的级联和远程监控，RS485通讯电路与微处理器双向连接；所述USART通讯电路包括USART接口，USART通讯电路与微处理器双向连接；所述Micro-USB接口电路包括Micro-USB接口，用于测试参数设定、测试卡运行监控，Micro-USB接口电路与微处理器双向连接；所述PCI-E接口电路包括PCI-E接口，PCI-E接口电路与微处理器双向连接；所述JTAG接口电路包括JTAG接口，JTAG接口电路与微处理器双向连接；所述拨码开关，用于配置测试卡的通讯地址，拨码开关与微处理器电连接。

对上述方案的进一步改进为，所述IO扩展电路包括IO扩展口芯片，IO扩展口芯片为CAT955YI-T2芯片。

对上述方案的进一步改进为，所述开短路测试电路包括控制开关集成电路，控制开关集成电路的输入端与PCI-E接口上的开短路测试点电连接，控制开关集成电路的输出端与微处理电连接。

对上述方案的进一步改进为，所述开短路测试电路还包括第一多路复用器，第一多路复用器的输入端与PCI-E接口上的开短路测试点电连接，第一多路复用器的输出端与控制开关集成电路的输入端电连接。

对上述方案的进一步改进为，所述第一多路复用器包括七个输入端，第一多路复用器的七个输入端分别与PCI-E接口上的七个开短路测试点电连接。

对上述方案的进一步改进为，所述电阻测试电路包括精密运算放大器、缓冲器。