[发明专利]一种测量E型工件壁厚的机构及其实现方法

权利要求书

1.一种测量E型工件壁厚的机构，其特征在于：包括进料输送带(1)，进料输送带(1)出料端的一侧设有推料气缸(2)，且进料输送带(1)出料端的另一侧设有测量基准平台(5)，测量基准平台(5)远离进料输送带(1)的一端设有出料输送带(9)，测量基准平台(5)远离进料输送带(1)一端的上方设有电子千分表(6)，进料输送带(1)和电子千分表(6)分别与控制器信号连接。

2.根据权利要求1所述的一种测量E型工件壁厚的机构，其特征在于：进料输送带(1)的出料端上连接有阻挡块(3)。

3.根据权利要求1所述的一种测量E型工件壁厚的机构，其特征在于：进料输送带(1)的出料端上连接有到位传感器(4)，到位传感器(4)与控制器信号连接。

4.根据权利要求1所述的一种测量E型工件壁厚的机构，其特征在于：测量基准平台(5)上位于电子千分表(6)的一侧连接有测量到位传感器(12)，测量到位传感器(12)与控制器信号连接。

5.根据权利要求1所述的一种测量E型工件壁厚的机构，其特征在于：电子千分表(6)的检测端上连接有测量头(11)。

6.根据权利要求1所述的一种测量E型工件壁厚的机构，其特征在于：测量基准平台(5)上设有E型槽(51)。

7.根据权利要求1所述的一种测量E型工件壁厚的机构，其特征在于：出料输送带(9)的一侧连接有剔除吹气嘴(10)，且出料输送带(9)的另一侧连接有与剔除吹气嘴(10)相对应的不合格品收集盒(8)。

8.根据权利要求7所述的一种测量E型工件壁厚的机构，其特征在于：剔除吹气嘴(10)的一侧设有不合格品剔除检测传感器(7)，不合格品剔除检测传感器(7)与控制器信号连接。

9.根据权利要求1-8任一项所述的测量E型工件壁厚的机构的实现方法，其特征在于，包括以下步骤：

(一)、待测量E型工件通过进料输送带(1)往后输送，当E型工件到达阻挡块(3)的位置处时，触发到位传感器(4)，到位传感器(4)触发信号给控制器；

(二)、然后控制器控制推料气缸(2)动作将待测E型工件推入测量基准平台(5)；

(三)、当待测E型工件在测量基准平台(5)上到达测量位置处时，测量到位传感器(12)触发信号，然后控制器控制电子千分表(6)对E型工件的壁厚h进行测量，对测量数据进行记录；

(四)、测量完毕的E型工件通过出料输送带(9)往后输送；

(五)、当运行过程中到达不合格品剔除检测传感器(7)的位置处时，不合格品剔除检测传感器(7)触发信号给控制器，控制器根据之前记录的数据来判断该E型工件是否合格，若该E型工件不合格，则触发剔除吹气嘴(10)动作，将不合格品吹入不合格品收集盒(8)中，若该E型工件合格，则继续输送至下一工序。

10.根据权利要求9所述的测量E型工件壁厚的机构的实现方法，其特征在于：进料输送带(1)的出料端上连接有阻挡块(3)；进料输送带(1)的出料端上连接有到位传感器(4)，到位传感器(4)与控制器信号连接；测量基准平台(5)上位于电子千分表(6)的一侧连接有测量到位传感器(12)，测量到位传感器(12)与控制器信号连接；电子千分表(6)的检测端上连接有测量头(11)；测量基准平台(5)上设有E型槽(51)；出料输送带(9)的一侧连接有剔除吹气嘴(10)，且出料输送带(9)的另一侧连接有与剔除吹气嘴(10)相对应的不合格品收集盒(8)；剔除吹气嘴(10)的一侧设有不合格品剔除检测传感器(7)，不合格品剔除检测传感器(7)与控制器信号连接。