[发明专利]一种铁氧体单晶谐振子饱和磁化强度快速测试装置及测试方法

权利要求书

1.一种铁氧体单晶谐振子饱和磁化强度快速测试装置，其特征在于：包括样品杆(1)、谐振器(2)、模拟信号发生器(3)、扫场电源(4)和示波器(5)；其中，所述样品杆(1)置于谐振器(2)中，所述谐振器(2)分别通过数据线与模拟信号发生器(3)和扫场电源(4)连接；所述扫场电源(4)通过数据线与示波器(5)连接。

2.根据权利要求1所述的铁氧体单晶谐振子饱和磁化强度快速测试装置，其特征在于：所述样品杆(1)中与待测样品球连接部分为耐高温陶瓷材料。

3.根据权利要求1所述的铁氧体单晶谐振子饱和磁化强度快速测试装置，其特征在于：所述谐振器(2)为YIG单级带阻滤波器。

4.采用权利要求1-3任意一项的装置进行铁氧体单晶谐振子饱和磁化强度快速测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1：打开谐振器(2)、模拟信号发生器(3)、扫场电源(4)和示波器(5)的电源，预热，然后调整模拟信号发生器(3)的输出频率，使用标准球进行定标，确定标准球[110]主模与[210]高次静磁模之间的距离格数K1；

S2：将待测样品球用样品杆(1)粘好后插入谐振器(2)中，确定待测样品球[110]主模与[210]高次静磁模之间的距离格数K2；

S3:根据公式换算出待测样品的饱和磁化强度大小，上述公式中，4πMs₁为标准球的饱和磁化强度，4πMs₂为待测样品球的饱和磁化强度。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于：所述标准球为纯YIG单晶小球。

6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于：所述待测样品球为微波铁氧体单晶材料，其形状为圆球，直径为0.20-1.5mm。