[发明专利]一种基于谐波技术的线型非线性修正的检测系统及方法有效
申请号: | 202010716706.3 | 申请日: | 2020-07-23 |
公开(公告)号: | CN111829980B | 公开(公告)日: | 2021-08-10 |
发明(设计)人: | 唐七星;张玉钧;陈东;刘路;廖娟;王玉伟;何莹;郭楠 | 申请(专利权)人: | 安徽农业大学 |
主分类号: | G01N21/39 | 分类号: | G01N21/39;G01N21/01 |
代理公司: | 安徽省合肥新安专利代理有限责任公司 34101 | 代理人: | 陆丽莉;何梅生 |
地址: | 230036 *** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 谐波 技术 线型 非线性 修正 检测 系统 方法 | ||
1.一种基于谐波技术的线型非线性修正的检测方法,其特征是按如下步骤进行:
步骤1.获取第i个测量周期下的二次谐波光谱信号Di(n)与参考光路在第i个测量周期下无吸收情况的二次谐波背景信号Bi(n),并利用式(1)进行背景噪声修正,得到第i个测量周期下的背景噪声修正后的光谱信号Di’(n);
D′i(n)=Di(n)-Bi(n) n=0,1,2...N (1)
式(1)中,i表示对应的测量周期,n为信号对应序列位置,N为所述n所取得的最大值;
步骤2.选取第i-1个测量周期下的光谱信号Di-1’(n)的右侧旁瓣无吸收区的m个信号到第i个测量周期下的光谱信号Di’(n)的左侧旁瓣无吸收区的m个信号,以及第i个测量周期下的光谱信号Di’(n)的右侧旁瓣无吸收区的m个信号到第i+1个测量周期下的背景噪声修正后的光谱信号Di+1’(n)的左侧旁瓣的无吸收区的m个信号;且0≤m≤N;
利用式(2)对所选取的无吸收区域信号进行多项式拟合,得到第i个测量周期下零线偏移噪声信号Zi(n’);
Zi(n')=a0+a1n'+a2n'2 n'=0,1,2...N+2m (2)
式(2)中,a0,a1,a2为拟合系数,n’为拟合信号对应序列位置;
步骤3.利用式(3)对零线偏移噪声信号Zi(n’)进行截取,获取截取后的零线偏移噪声信号Zi’(n’):
式(3)中,式(1)中,pi-1、pi、pi+1分别为第i-1个测量周期、第i个测量周期与第i+1个测量周期的不等精度权重,n’max为所述n'所取得的最大值,且n’max=N+2m;
步骤4.利用式(4)对所述背景噪声修正后的光谱信号Di’(n)进行修正,得到零线偏移噪声修正后的探测光谱信号Di”(n);
D″i(n)=D′i(n)-Z′i(n+m) n=0,1,2…N (4)
获取第i个测量周期下的二次谐波光谱信号Ri(n),按照步骤1-步骤4的方法对所述参考光路的第i个测量周期下的二次谐波光谱信号Ri(n)进行零线偏移噪声修正后得到零线偏移噪声修正后的参考光谱信号Ri”(n);
步骤5.从Hitran数据库获取相关参数用于对高斯线型求取二阶微分,得到微分结果带入二次谐波分量的表达式,从而获得二次谐波的标准信号;
利用式(5)设置自适应拟合的最优准则:
式(5)中,Iminl代表二次谐波谱线左侧波谷强度,Iminr代表二次谐波谱线右侧波谷强度,Iminm代表二次谐波谱线两个波谷处的强度平均值,分别代表理论左侧与右侧旁瓣宽度,Λl、Λr分别代表二次谐波谱线左侧与右侧旁瓣宽度,ξ、ε分别为峰谷不对称阈值与旁瓣阈值;
根据所述最优准则,利用所述标准信号对零线偏移噪声修正后的参考光谱信号Ri”(n)和探测光谱信号Di”(n)进行自适应迭代拟合,从而得到第i个测量周期下的线型不对称性修正后的参考信号XRi”(n)与探测信号XDi”(n);
步骤6.根据已知的参考光路浓度,从而对所述参考信号XRi”(n)与探测信号XDi”(n)进行待测气体浓度反演,从而得到第i个测量周期下的反演结果。
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