[发明专利]防激光泄露的发光器件在审

专利信息
申请号: 202010717645.2 申请日: 2020-07-23
公开(公告)号: CN111740309A 公开(公告)日: 2020-10-02
发明(设计)人: 陈威;樊嘉杰;祁高进;杨卫桥;阮军 申请(专利权)人: 江苏科慧半导体研究院有限公司
主分类号: H01S5/00 分类号: H01S5/00;H01S5/022
代理公司: 常州佰业腾飞专利代理事务所(普通合伙) 32231 代理人: 陈红桥
地址: 213164 江苏省常州市武进区*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 激光 泄露 发光 器件
【说明书】:

发明提供了一种防激光泄露的发光器件,包括:壳体以及设置在壳体内的半导体激光管、透镜、荧光材料、位移传感器和控制模块,荧光材料设置在半导体激光管的激光发射方向上;透镜位于荧光材料和半导体激光管的之间,透镜用于对半导体激光管发射的蓝光进行整形,荧光材料用于将整形后的蓝光转换为黄绿光;位移传感器设置在荧光材料上,用于采集荧光材料的位移信息,并生成位移信号;控制模块的一端与半导体激光管的第一和第二引脚相连,另一端与壳体上设置的第一和第二电源引脚相连,其中,控制模块用于根据位移信号判断荧光材料是否发生断裂,在未发生断裂时,控制对半导体激光管供电,在发生断裂时,控制停止对半导体激光管供电。

技术领域

本发明涉及发光器件技术领域,具体涉及一种防激光泄露的发光器件。

背景技术

目前,激光光源在工农业生产和科学技术的各领域中均得到了广泛应用,其中很多激光的合成是通过蓝光激发荧光材料产生的。然而,在实际使用过程中,难免会出现蓝光泄露的情况,蓝光会对人眼会造成永久性伤害。因此,如何检测激光是否发生泄露至关重要。

相关技术中,可通过光学传感器判断激光是否发生泄露,但是在判断过程中,光学传感器或遮挡住一部分光线,从而造成激光的能量损耗,并且,采用该方式进行判断时,准确度较低。

发明内容

本发明为解决上述技术问题,提供了一种防激光泄露的发光器件,通过位移传感器能够实时准确地判断出荧光材料是否发生断裂,从而能够实时准确地判断是否发生激光泄露,同时无需采用光学传感器进行判断,从而能够有效地避免发生激光能量损耗的情况。

本发明采用的技术方案如下:

防激光泄露的发光器件包括:壳体以及设置在所述壳体内的半导体激光管、透镜、荧光材料、位移传感器和控制模块,其中,所述半导体激光管用于发射蓝光;所述荧光材料设置在所述半导体激光管的激光发射方向上;所述透镜位于所述荧光材料和所述半导体激光管的之间,其中,所述透镜用于对所述蓝光进行整形,所述荧光材料用于将整形后的蓝光转换为黄绿光,其中,所述黄绿光与所述蓝光进行混合,形成向外辐射的白光;所述位移传感器设置在所述荧光材料上,用于采集所述荧光材料的位移信息,并生成位移信号;所述控制模块的一端与所述半导体激光管的第一引脚和第二引脚相连,所述控制模块的另一端通过正极电源引线和负极电源引线分别与所述壳体上设置的第一电源引脚和第二电源引脚相连,其中,所述控制模块用于根据所述位移信号判断所述荧光材料是否发生断裂,并在判断所述荧光材料未发生断裂时,控制供电电源对所述半导体激光管供电,以及在判断所述荧光材料发生断裂时,控制所述供电电源停止对所述半导体激光管供电。

所述位移传感器通过导线与所述控制模块相连。

所述位移传感器为精密位移传感器。

所述控制模块具体用于,对所述位移信号进行放大处理,并根据放大处理后的位移信号判断所述荧光材料是否发生断裂。

所述控制模块具体用于,将所述放大处理后的位移信号与所述荧光材料未发生断裂时的位移信号进行比对,并根据比对结果判断所述荧光材料是否发生断裂。

所述发光器件为半导体激光器。

本发明的有益效果:

本发明通过位移传感器能够实时准确地判断出荧光材料是否发生断裂,从而能够实时准确地判断是否发生激光泄露,同时无需采用光学传感器进行判断,从而能够有效地避免发生激光能量损耗的情况。

附图说明

图1为本发明实施例的防激光泄露的发光器件的结构示意图;

图2为本发明一个实施例的防激光泄露的发光器件的结构示意图。

具体实施方式

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