[发明专利]一种基于深度学习的工业CT检测缺陷的智能识别方法在审
申请号: | 202010717952.0 | 申请日: | 2020-07-23 |
公开(公告)号: | CN112102229A | 公开(公告)日: | 2020-12-18 |
发明(设计)人: | 赵纪元;王军军;张周锁 | 申请(专利权)人: | 西安交通大学 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06N3/08;G06N3/04;G06K9/62 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 李红霖 |
地址: | 710049 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 深度 学习 工业 ct 检测 缺陷 智能 识别 方法 | ||
1.一种基于深度学习的工业CT检测缺陷的智能识别方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1:采集工业CT检测图像;
步骤2:对工业CT检测图像进行处理,得到深度学习数据集;
步骤3:搭建U-net网络;
步骤4;利用深度学习数据集对U-net网络进行训练;
步骤5:利用训练好的U-net网络对新的工业CT检测图像的缺陷进行自动识别。
2.根据权利要求1所述的一种基于深度学习的工业CT检测缺陷的智能识别方法,其特征在于,步骤2)的具体过程为:在工业CT检测图像中选取数量相同的正常图像、具有裂纹的图像、具有气孔的图像以及具有夹杂的图像作为图像集,然后将图像集分为测试集和训练集,测试集和训练集中均包括数量相同的正常图像、具有裂纹的图像、具有气孔的图像以及具有夹杂的图像,测试集和训练集组成深度学习数据集。
3.根据权利要求1所述的一种基于深度学习的工业CT检测缺陷的智能识别方法,其特征在于,步骤3)的具体过程如下:
一、下采样过程:
1)将CT断层图像进行2次卷积操作,得到第一卷积图像,然后将第一卷积图像进行最大池化操作,得到第一最大池化层;
2)对第一最大池化层进行2次卷积操作,得到第二卷积图像,然后将第二卷积图像进行最大池化操作,得到第二最大池化层;
3)对第二最大池化层进行2次卷积操作,得到第三卷积图像,然后将第三卷积图像进行最大池化操作,得到第三最大池化层;
4)对第三最大池化层进行2次卷积操作,得到第四卷积图像,然后将第四卷积图像进行最大池化操作,得到第四最大池化层;
5)对第四最大池化层进行2次卷积操作,得到缺陷的环境信息图像;
二、上采样过程:
a)对缺陷的环境信息图像进行反卷积操作,得到第一反卷积图像,然后将第四卷积图像进行复制和剪裁后与第一反卷积图像进行拼接,进行卷积操作;
b)将步骤a)进行卷积操作后的图像进行反卷积操作,得到第二反卷积图像,然后将第三卷积图像进行复制和剪裁后与第二反卷积图像进行拼接,进行卷积操作;
c)将步骤b)进行卷积操作后的图像进行反卷积操作,得到第三反卷积图像,然后将第二卷积图像进行复制和剪裁后与第三反卷积图像进行拼接,进行卷积操作;
d)将步骤c)进行卷积操作后的图像进行反卷积操作,得到第四反卷积图像,然后将第一卷积图像进行复制和剪裁后与第四反卷积图像进行拼接,进行卷积操作;
e)将CT断层图像进行复制和剪裁,然后与步骤d)进行卷积操作后的图像拼接,再进行三次卷积操作,得到特征图;
f)最后在特征图上增加Softmax层。
4.根据权利要求3所述的一种基于深度学习的工业CT检测缺陷的智能识别方法,其特征在于,上采样和下采样中的每次卷积操作采用下式进行:
式中:为卷积层l的输出张量;l为卷积层的标号;
为卷积层l的输入张量;
fm,n为尺寸为H×W的卷积核;H为高度,W为宽度;
i为张量的横坐标,j为张量的纵坐标;
m为卷积核的横坐标,n为卷积核的纵坐标。
5.根据权利要求3所述的一种基于深度学习的工业CT检测缺陷的智能识别方法,其特征在于,上采样和下采样中的每次最大池化操作采用下式进行:
xi,j=Max{xi×s+k,j×s+k},k=0,1,...,K
式中:xi,j为图像坐标(i,j)最大池化后的结果;s为滑动步长,K为局部区域边长。
6.根据权利要求3所述的一种基于深度学习的工业CT检测缺陷的智能识别方法,其特征在于,Softmax层的表达式为:
式中:pk(x)是第k类的对像素点x的分类结果,αk(x)代表像素x在特征图中的第k层激活值;K是像素点的类别总数。
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