[发明专利]一种防止钻孔过程中卷铜的方法有效

专利信息
申请号: 202010720650.9 申请日: 2020-07-24
公开(公告)号: CN111906847B 公开(公告)日: 2022-01-07
发明(设计)人: 宋占国;曹果辉;孙国朝;乔金胜;徐同国 申请(专利权)人: 广州市合成电子制品有限公司
主分类号: B26F1/16 分类号: B26F1/16;H05K3/00
代理公司: 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 代理人: 叶琦炜
地址: 511473 广东省广州*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 防止 钻孔 过程 中卷铜 方法
【权利要求书】:

1.一种防止钻孔过程中卷铜的方法,其特征在于,包括如下步骤:

上料,将待分割的电路板固定在锣板机的载具上;

开孔,沿预定分割路径,在电路板上钻出数排邮票孔;

一次钻孔,控制钻头,分割相邻两个邮票孔之间的电路板连接部,使得分割后的电路板边缘形成半圆孔;

二次钻孔,控制钻头,朝向电路板以外的区域进刀,使得钻头对半圆孔内壁卷起的铜皮进行切除;

执行一次钻孔步骤后电路板上具有多个半圆孔,对每个半圆孔依次执行二次钻孔步骤,所述二次钻孔步骤包括:

当半圆孔的半径R1小于钻头的半径R2时,控制钻头朝向电路板以外的区域进刀,使得钻头对半圆孔周向两端的内壁位置卷起的铜皮进行切除;

当半圆孔的半径R1大于钻头的半径R2时,控制钻头朝向电路板以外的区域进刀,使得钻头切除对半圆孔周向一端的位置卷起的铜皮进行切除。

2.根据权利要求1所述的防止钻孔过程中卷铜的方法,其特征在于,当半圆孔的半径R1小于钻头的半径R2时,所述二次钻孔步骤当中钻头的进刀位置与半圆孔的圆心之间的距离a满足:(a-b)2=(R2)2-(R1)2,b的取值范围为0-0.2mm。

3.根据权利要求2所述的防止钻孔过程中卷铜的方法,其特征在于,所述二次钻孔步骤当中变量b的取值为0.1mm。

4.根据权利要求2所述的防止钻孔过程中卷铜的方法,其特征在于,钻头的进刀位置与半圆孔圆心的连线垂直于半圆孔周向两端的连线。

5.根据权利要求1所述的防止钻孔过程中卷铜的方法,其特征在于,当半圆孔的半径R1大于钻头的半径R2时,所述二次钻孔步骤当中,钻头的进刀位置与电路板边缘之间的距离c满足c+d=R1,上述d的取值范围为0-0.2mm。

6.根据权利要求5所述的防止钻孔过程中卷铜的方法,其特征在于,所述二次钻孔步骤当中变量d的取值为0.1mm。

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