[发明专利]界面关系判断方法及装置在审
申请号: | 202010723127.1 | 申请日: | 2020-07-24 |
公开(公告)号: | CN112000638A | 公开(公告)日: | 2020-11-27 |
发明(设计)人: | 张志波;温丽涛 | 申请(专利权)人: | 广东省材料与加工研究所 |
主分类号: | G06F16/21 | 分类号: | G06F16/21;G06F16/22 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 郭浩辉;麦小婵 |
地址: | 510000 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 界面 关系 判断 方法 装置 | ||
本发明提供一种界面关系判断方法及装置,该方法包括:获取两相晶体结构;根据两相晶体结构选取两相晶面;根据两相晶面计算界面错配度;根据界面错配度判断界面关系。本发明通过获取两相晶体结构,选取两相晶面,根据错配度计算公式计算错配度,从而判断两相界面关系。
技术领域
本发明涉及材料结构表征计算领域,尤其涉及一种界面关系判断方法及装置。
背景技术
界面是不同原子阵列的结合处,广泛存在于金属合金、复合材料、膜材料等,界面关系都对材料加工、性能和应用服役都有着重要影响,可以通过调控界面结构获取性能优异的材料。界面错配度作为最基础的界面结构参数,能够有效表征界面结构情况。界面错配度有不同的计算方法,部分计算方法程序繁琐且计算公式复杂。界面错配度的值往往作为判断界面共格关系的根据。因此,结合界面错配度计算公式,开发简单易行的界面错配度计算程序及界面关系判断,从而简单高效快速地完成界面错配度计算和界面关系判断成为目前需要解决的技术问题。
发明内容
本发明提供一种界面错配度计算程序及界面关系判断方法及装置,能够基于多种界面错配度计算方法简单高效获得相关界面错配度的值,从而快速准确判断材料界面关系。
第一方面,本发明提供一种界面关系判断方法,包括:
获取两相晶体结构;
根据两相晶体结构选取两相晶面;
根据两相晶面计算界面错配度;
根据界面错配度判断界面关系。
可选地,根据界面关系获取界面关系数据库。
可选地,两相晶面包括两相低指数晶面。
可选地,根据两相晶面选取两相晶向;根据两相晶向计算两相对应晶向原子间距和两相对应晶向原子夹角;根据两相对应晶向原子间距和两相对应晶向原子夹角,计算界面错配度。
可选地,两相对应晶向原子夹角为锐角。
可选地,根据界面错配度和预设阈值,获取界面关系。
另一方面,本发明提供一种界面关系判断装置,包括:
获取模块,用于获取两相晶体结构;
选取模块,用于根据两相晶体结构选取两相晶面;
计算模块,用于根据两相晶面计算界面错配度;
判断模块,用于根据界面错配度判断界面关系。
由上述技术方案可知,本发明通过获取两相晶体结构;根据两相晶体结构选取两相晶面;根据两相晶面计算界面错配度;根据界面错配度判断界面关系。本发明根据两相晶体结构选取两相晶面,根据错配度计算公式能够准确计算界面错配度,判断材料界面关系,从而改善材料性能。
附图说明
图1为本发明一实施例提供的一种界面关系判断方法的流程示意图;
图2为本发明一实施例提供的一种两相对应晶向原子间距和两相对应晶向原子夹角示意图(图为公式3示意图);
图3为本发明一实施例提供的一种界面关系判断装置的结构示意图;
图4为本发明一实施例提供的Cu(铜)与γ-Fe(γ-铁)界面关系判断方法的流程示意图;
图5为本发明一实施例提供的Cu与W(钨)界面关系判断方法的流程示意图;
图6为本发明一实施例提供的Ce2O3(三氧化二铈)与γ-Fe界面关系判断方法的流程示意图。
具体实施方式
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