[发明专利]一种高度图生成方法、装置、设备及存储介质在审
申请号: | 202010724145.1 | 申请日: | 2020-07-24 |
公开(公告)号: | CN111870955A | 公开(公告)日: | 2020-11-03 |
发明(设计)人: | 陈聪 | 申请(专利权)人: | 上海米哈游天命科技有限公司 |
主分类号: | A63F13/537 | 分类号: | A63F13/537 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆 |
地址: | 201802 上海市嘉定*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 高度 生成 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
1.一种高度图生成方法,其特征在于,包括:
基于目标高度图的有效区域确定所述目标高度图的采样区域,其中,所述采样区域的覆盖范围大于所述有效区域的覆盖范围;
基于所述采样区域对场景模型进行采样,获取采样点的高度信息;
基于各所述采样点的高度信息生成所述目标高度图。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于目标高度图的有效区域确定所述目标高度图的采样区域,包括:
获取目标高度图的有效区域;
确定所述有效区域对应的有效坐标范围,扩大所述有效坐标范围得到所述采样坐标范围,并基于所述采样坐标范围确定所述采样区域。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述确定所述有效区域对应的有效坐标范围,扩大所述有效坐标范围得到所述采样坐标范围,包括:
确定所述有效区域对应的横向边缘有效坐标和纵向边缘有效坐标;
基于所述横向边缘有效坐标扩大所述有效坐标范围的横向有效范围,得到横向边缘采样坐标;
基于所述纵向有效边缘坐标扩大所述有效坐标范围的纵向有效范围,得到纵向边缘采样坐标;
根据所述横向边缘采样坐标和所述纵向边缘采样坐标确定所述采样坐标范围。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述横向边缘有效坐标包括横向左边缘有效坐标和横向右边缘有效坐标,所述横向边缘采样坐标包括横向左边缘采样坐标和横向右边缘采样坐标,所述基于所述横向边缘有效坐标扩大所述有效坐标范围的横向有效范围,得到横向边缘采样坐标,包括:
将所述横向左边缘有效坐标左移设定横向偏移量,得到所述横向左边缘采样坐标;
将所述横向右边缘有效坐标右移设定横向偏移量,得到所述横向右边缘采样坐标。
5.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述纵向边缘有效坐标包括纵向上边缘有效坐标和纵向下边缘有效坐标,所述纵向边缘采样坐标包括纵向上边缘采样坐标和纵向下边缘采样坐标,所述基于所述纵向有效边缘坐标扩大所述有效坐标范围的纵向有效范围,得到纵向边缘采样坐标,包括:
将所述纵向上边缘有效坐标上移设定纵向偏移量,得到所述纵向上边缘采样坐标;
将所述纵向下边缘有效坐标下移设定纵向偏移量,得到所述纵向下边缘采样坐标。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于各所述采样点的高度信息生成所述目标高度图,包括:
基于各所述采样点的高度信息生成所述采样区域对应分辨率的采样高度图;
将所述采样高度图进行缩放,得到所述有效区域对应分辨率的目标高度图。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述将所述采样高度图进行缩放,得到所述有效区域对应分辨率的目标高度图,包括:
基于领域有效值的加权平均值的图像缩放方法将所述采样高度图缩放为所述目标高度图。
8.一种高度图生成装置,其特征在于,包括:
采样区域确定模块,用于基于目标高度图的有效区域确定所述目标高度图的采样区域,其中,所述采样区域的覆盖范围大于所述有效区域的覆盖范围;
高度信息确定模块,用于基于所述采样区域对场景模型进行采样,获取采样点的高度信息;
目标高度图生成模块,用于基于各所述采样点的高度信息生成所述目标高度图。
9.一种计算机设备,其特征在于,所述设备包括:
一个或多个处理器;
存储装置,用于存储一个或多个程序;
当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行,使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1-7中任一所述的高度图生成方法。
10.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,该程序被处理器执行时实现如权利要求1-7中任一所述的高度图生成方法。
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