[发明专利]一种水表冰冻程度计算方法及系统

权利要求书

1.一种水表冰冻程度计算方法，其特征在于：

根据表壳膨胀比例和/或表壳的光滑程度计算水表的冰冻程度；

所述根据表壳膨胀比例和/或表壳的光滑程度计算水表的冰冻程度，是：根据水表冰冻程度对表壳的膨胀比例的影响计算水表的冰冻程度、根据水表冰冻程度对表壳的光滑程度的影响计算水表的冰冻程度、根据水表冰冻程度对表壳的膨胀比例的影响和水表冰冻程度对表壳的光滑程度的影响综合计算水表的冰冻程度的任一项；

所述表壳的膨胀比例，其检测方法是：根据在表壳外表面覆盖的一体成型材料的拉伸面积计算表壳相对初始状态增大的体积并以此计算表壳的膨胀比例、根据在表壳外表面覆盖的一体成型材料的形状变化判断表壳相对初始状态的形状变化并以此计算表壳的膨胀比例、根据在表壳外表面覆盖的一体成型材料的拉伸面积和形状变化综合计算表壳的膨胀比例的任一项；

所述根据在表壳外表面覆盖的一体成型材料的拉伸面积计算表壳相对初始状态增大的体积并以此计算表壳的膨胀比例，包括步骤：获取在表壳表面覆盖的一体成型材料的初始形态；获取覆盖的一体成型材料的当前形态；测量当前形态和初始形态之间的距离并计算距离平均值r；根据距离平均值r计算表壳的膨胀比例a，a 或a，其中k1、k2、k3、k4是事先训练得到的计算系数；

所述根据在表壳外表面覆盖的一体成型材料的形状变化判断表壳相对初始状态的形状变化并以此计算表壳的膨胀比例，包括步骤：获取在表壳表面覆盖的一体成型材料的初始形态；比较一体成型材料的当前形态与初始形态并统计形态不同的位置数量m；根据形态不同的位置数量m计算表壳的膨胀比例a，a或a，其中k5、k6、k7、k8是事先训练得到的计算系数；

所述根据在表壳外表面覆盖的一体成型材料的拉伸面积和形状变化综合计算表壳的膨胀比例，包括步骤：获取覆盖的一体成型材料的当前形态并测量当前形态和初始形态之间的距离并计算距离平均值r；比较一体成型材料的当前形态与初始形态并统计形态不同的位置数量m；根据距离平均值r和形态不同的位置数量m计算表壳的膨胀比例a，a或a，其中k9、k10、k11是事先训练得到的计算系数。

2.根据权利要求1所述的水表冰冻程度计算方法，其特征在于，所述表壳膨胀比例包括表壳相对初始状态增大的体积、表壳相对初始状态的形状变化的任一项或多项。

3.根据权利要求1所述的水表冰冻程度计算方法，其特征在于，所述表壳的光滑程度包括表壳壁上残留的水量、表壳壁上残留的杂质、表壳壁的平滑程度的任一项或多项。

4.根据权利要求3所述的水表冰冻程度计算方法，其特征在于，所述表壳的光滑程度，其检测方法是：根据表壳壁上残留的水量与表壳光滑程度的关系计算表壳的光滑程度系数、根据表壳壁上残留的杂质的数量和体积与表壳光滑程度的关系计算表壳的光滑程度系数、采用激光扫平技术判断表壳的平滑度并以此计算表壳的光滑程度系数、根据表壳壁上残留的水量和表壳壁上残留的杂质的数量和体积与表壳光滑程度的关系综合计算表壳的光滑程度系数、根据表壳壁上残留的水量与表壳光滑程度的关系和采用激光扫平技术判断表壳的平滑度综合计算表壳的光滑程度系数、根据表壳壁上残留的杂质的数量和体积与表壳光滑程度的关系和采用激光扫平技术判断表壳的平滑度综合计算表壳的光滑程度系数、根据表壳壁上残留的水量和表壳壁上残留的杂质的数量和体积与表壳光滑程度的关系和采用激光扫平技术判断表壳的平滑度综合计算表壳的光滑程度系数的任一项。

5.一种计算机可读存储介质，其存储用于电子数据交换的计算机程序，其中，所述计算机程序使计算机执行如权利要求1-4任一项所述的方法。

6.一种水表冰冻程度计算系统，其特征在于包括：

传感器；用于检测表壳膨胀比例和/或表壳的光滑程度和/或表壳的物性特征；

处理器；

存储器；

以及

一个或多个程序，其中所述一个或多个程序被存储在存储器中，并且被配置成由所述处理器执行，所述程序使计算机执行如权利要求1-4任一项所述的方法。