[发明专利]压力传感器的测试方法、装置及存储介质

权利要求书

1.一种压力传感器的测试方法，其特征在于，所述压力传感器的测试方法包括：

在常温下向待测压力传感器施加第一预设压力值以进行压力冲击测试，所述第一预设压力值大于常压；

获取压力冲击测试后所述待测压力传感器的第一性能参数；

若所述第一性能参数满足第一预设条件，则在常温以及第二预设压力值的环境下对所述待测压力传感器进行压力测试，以确定所述待测压力传感器的性能信息，所述第二预设压力值小于常压。

2.如权利要求1所述的压力传感器的测试方法，其特征在于，所述在常温以及第二预设压力值的环境下对所述待测压力传感器进行压力测试，以得到测试结果的步骤包括：

在常温下将所述待测压力传感器所在环境的压力值在第一预设时长内降至所述第二压力值；

维持所述第二压力值第二预设时长后，将所述待测压力传感器所在环境的压力值在第三预设时长内升至常压；

获取所述待测压力传感器在常温下检测到的第二性能参数；

获取所述第二性能参数与标准性能参数的差值；

根据所述差值确定所述待测压力传感器的性能信息。

3.如权利要求2所述的压力传感器的测试方法，其特征在于，所述根据所述差值确定所述待测压力传感器的性能信息的步骤包括：

在所述差值处于预设范围内时，确定所述待测压力传感器的性能正常；

在所述差值处于预设范围外时，确定所述待测压力传感器的性能异常。

4.如权利要求2所述的压力传感器的测试方法，其特征在于，所述第二性能参数为所述待测压力传感器检测到的压力值以及温度值。

5.如权利要求1-3任一项所述的压力传感器的测试方法，其特征在于，所述第二预设压力值为30kpa，所述第一预设压力值为5ATM。

6.如权利要求1所述的压力传感器的测试方法，其特征在于，所述第一性能参数包括所述待测压力传感器检测到的压力值以及所述待测压力传感器检测到的温度值，所述第一预设条件包括：

所述待测压力传感器检测到的压力值与标准压力值之间的差值在第一预设差值范围内；

所述待测压力传感器检测到的温度值与标准温度值之间的差值在第二预设差值范围内。

7.如权利要求6所述的压力传感器的测试方法，其特征在于，所述在常温下向待测压力传感器施加第一预设压力值以进行压力冲击测试的步骤之后，所述压力传感器的测试方法还包括：

判断所述待测压力传感器通信连接是否正常；

在所述待测压力传感器通信连接正常时，读取所述待测压力传感器中的压力检测程序；

在所述压力检测程序读取正常时，执行所述获取压力冲击测试后所述待测压力传感器的第一性能参数的步骤。

8.如权利要求1所述的压力传感器的测试方法，其特征在于，所述在常温下向待测压力传感器施加第一预设压力值以进行压力冲击测试的步骤包括：

在常温下将所述待测压力传感器所在环境的压力值在第四预设时长内升至所述第一压力值；

维持所述第二压力值第五预设时长后，将所述待测压力传感器所在环境的压力值在第六预设时长降至常压。

9.一种压力传感器的测试装置，其特征在于，所述压力传感器的测试装置包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的压力传感器的测试程序，所述待测压力传感器的测试程序被所述处理器执行如权利要求1-8中任一项所述的压力传感器的测试方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有压力传感器的测试程序，所述待测压力传感器的测试程序被处理器执行时实现如权利要求1至8中任一项所述的压力传感器的测试方法的步骤。