[发明专利]一种电路板电参数测量系统

权利要求书

1.一种电路板电参数测量系统，其特征在于，包括：机械装置、主控装置、电机伺服装置和测试装置；

所述机械装置包括固定待测试电路板的测试平台以及位于所述测试平台上方的探测模块，所述探测模块具有测试探针；

所述主控装置与所述电机伺服装置电连接，用于将所述待测试电路板的测试点坐标数据传输给所述电机伺服装置；

所述电机伺服装置与所述探测模块电连接，用于根据所述测试点坐标数据驱动所述探测模块的所述探针移动至目标电路测试点，以使所述探针与所述目标电路测试点电连接；

所述测试装置与所述探测模块电连接，用于通过所述探测模块测试所述目标电路测试点的电参数。

2.根据权利要求1所述的电路板电参数测量系统，其特征在于，所述探测模块包括X步进电机、Y步进电机、Z步进电机、导轨以及设置在所述导轨上且面向所述待测试电路板的探针组件，所述探针组件包括所述探针，每个步进电机与所述电机伺服装置电连接；

所述电机伺服装置用于驱动每个所述步进电机以使所述探针下探至所述目标电路测试点，所述目标电路测试点包括目标X坐标、目标Y坐标和目标Z坐标。

3.根据权利要求2所述的电路板电参数测量系统，其特征在于，所述电机伺服装置包括微处理器和电机驱动电路，所述电机驱动电路分别与所述X步进电机、所述Y步进电机和所述Z步进电机电连接；

所述微处理器用于根据所述测试点坐标数据，通过所述电机驱动电路将所述X步进电机移动至所述目标X坐标、将所述Y步进电机移动至所述目标Y坐标以及将所述Z步进电机移动至所述目标Z坐标，使所述探针下探至所述目标电路测试点。

4.根据权利要求2所述的电路板电参数测量系统，其特征在于，所述探针组件包括与所述Z步进电机连接的丝杆以及固定连接的弹簧结构和Z轴滑块，所述弹簧结构的另一端与所述探针连接，所述Z轴滑块滑动连接在所述丝杆上；

所述Z步进电机用于在所述电机伺服装置的控制下，驱动所述丝杆转动以带动所述Z轴滑块沿Z方向移动，使所述探针下探至所述目标Z坐标。

5.根据权利要求2所述的电路板电参数测量系统，其特征在于，所述导轨的延伸方向与Y方向平行，所述导轨的两端分别固定两个所述X步进电机，使所述导轨沿X方向移动，所述Y步进电机设置在所述导轨上且与所述探针组件固定连接，使所述探针组件沿所述Y方向移动；或者，

所述导轨的延伸方向与X方向平行，所述导轨的两端分别固定两个所述Y步进电机，使所述导轨沿Y方向移动，所述X步进电机设置在所述导轨上且与所述探针组件固定连接，使所述探针组件沿所述X方向移动。

6.根据权利要求2所述的电路板电参数测量系统，其特征在于，所述探针组件的面向所述测试平台的一侧还设置有摄像头，所述摄像头与所述主控装置电连接，所述主控装置用于通过所述摄像头获取所述待测试电路板的图像，以确定所述待测试电路板的原点标记以及所述目标电路测试点的元器件。

7.根据权利要求2所述的电路板电参数测量系统，其特征在于，所述测试平台包括载台和位于所述载台上的定位结构；

所述定位结构包括至少一条X轴定位槽、至少一条Y轴定位槽、位于所述X轴定位槽上的两个X轴定位块以及位于所述Y轴定位槽上的两个Y轴定位块，所述X轴定位块在所述X轴定位槽上移动以及所述Y轴定位块在所述Y轴定位槽上移动，用于将所述待测试电路板固定在所述载台上。

8.根据权利要求1所述的电路板电参数测量系统，其特征在于，固定在所述测试平台上的所述待测试电路板具有接地点，所述接地点和所述探针通过引线与所述测试装置电连接。

9.根据权利要求1所述的电路板电参数测量系统，其特征在于，所述测试装置还与所述主控装置电连接；

所述主控装置还用于获取所述测试装置测试得到的所述目标电路测试点的电参数，并在检测到该电参数与所述目标电路测试点的基准参数一致时，判定该目标电路测试点正常。

10.根据权利要求1所述的电路板电参数测量系统，其特征在于，所述测试装置为V-I曲线测试仪，所述目标电路测试点的电参数为测试点V-I数据；或者，

所述测试装置为万用表，所述目标电路测试点的电参数为测试点电压；或者，

所述测试装置为示波器，所述目标电路测试点的电参数为测试点波形。