[发明专利]一种利用相位调制器半波电压测温的方法在审

专利信息
申请号: 202010740101.8 申请日: 2020-07-28
公开(公告)号: CN111879304A 公开(公告)日: 2020-11-03
发明(设计)人: 徐知芳;卜兴华;廉正刚;皮亚斌 申请(专利权)人: 武汉长盈通光电技术股份有限公司
主分类号: G01C19/72 分类号: G01C19/72;G01K7/00
代理公司: 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 代理人: 胡建平;孙方旭
地址: 430205 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 利用 相位 调制器 电压 测温 方法
【权利要求书】:

1.一种利用相位调制器半波电压测温的方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:步骤一,光纤陀螺的数字逻辑算法中包含Sagnac相位负反馈闭环模块和相位调制器半波电压漂移跟踪闭环模块;步骤二,在相位调制器半波电压漂移跟踪闭环模块中存储表征相位调制器半波电压的实时数值;步骤三,将相位调制器半波电压的实时数值来等效光纤环所处的环境温度。

2.根据权利要求1所述的利用相位调制器半波电压测温的方法,其特征在于,光纤陀螺光路包含光源、耦合器、相位调制器、光纤环、光电探测器,其中,耦合器输入端1与光源连接,输入端2与光电探测器的输入端连接,耦合器的一个输出端与相位调制器的输入端连接,相位调制器的两个输出端分别与光纤环的两个输出端连接。

3.根据权利要求1或2所述的利用相位调制器半波电压测温的方法,其特征在于,采用干涉式数字闭环光纤陀螺,其信号处理电路板包含ADC采样电路、DAC反馈电路,其中,ADC采样电路负责对光电探测器输出的电压信号进行数据转换、ADC采样,实现检测Sagnac干涉光强,DAC反馈电路负责给相位调制器提供相位调制电压,实现光信号相位反馈闭环。

4.根据权利要求1或2所述的利用相位调制器半波电压测温的方法,其特征在于,相位调制器紧靠光纤环安装,二者处于相同的环境温度下。

5.根据权利要求1或2所述的利用相位调制器半波电压测温的方法,其特征在于,相位调制器采用Y波导。

6.根据权利要求2所述的利用相位调制器半波电压测温的方法,其特征在于,所述耦合器为2×2耦合器。

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