[发明专利]一种PCIE信号测试治具及其数据通路选通测试系统

说明书

本发明公开一种数据通路选通测试系统，包括用于与待测PCIE插槽接插配合以引出其差分信号的金手指，与金手指信号连接、用于择一选择与差分信号中的各个DP数据通路导通的P型线路选通模块，与金手指信号连接、用于择一选择与差分信号中的各个DN数据通路导通的N型线路选通模块，同时与P型线路选通模块及N型线路选通模块信号连接、用于同步控制两者的选通线路的选通切换模块，以及与P型线路选通模块及N型线路选通模块的输出端相连、用于将差分信号分别输出至信号测试器的接头对。本发明能够方便、快速地完成对PCIE信号的所有数据通路的测试，简化测试操作步骤，降低信号接头的磨损。本发明还公开一种PCIE信号测试治具，其有益效果如上所述。

技术领域

本发明涉及信号测试技术领域，特别涉及一种数据通路选通测试系统。本发明还涉及一种PCIE信号测试治具。

背景技术

随着信息时代飞速发展的大背景下，公司乃至社会都需要服务器来支持存储越来越多的数据信息，这也就促使服务器的设计和生产。社会发展对信息以及存储需求急剧增长，服务器也逐渐渗透到社会的各个领域。信息在我们的日常生活起着一个重要的沟通桥梁作用。服务器行业的飞速发展使得一年中会有许多型号为满足客户需求而被设计生产的服务器，要想在生产后投入到市场中去，对服务器各项指标和功能进行测试，是其中较为关键的一步。

但是，测试这一工作在某些测试过程中需要的一些器件仍然存在发展的空间。尤其PCIE设备，绝大多数服务器上都会用到。由于PCIE设备使用广泛，这引导着PCIE不断更新发展从GEN1到GEN3再到现在正在验证使用的GEN4再到正在研发将在不久的未来投入使用的GEN5。种种迹象均表明PCIE的重要性。随着PCIE的不断更新其速率也越来越高，其传输信号的质量也要求更加严格。因此，在测试的时候需要在更加严格的环境下进行，为了提高信号量测的准确性，需要对当前测试环境进行完善。

在高速PCIE TX测试中，需要对PCIE中的所有Lane(数据通路)依次进行测试。当前的测试治具和方法均为分立式手动插拔测试模式，此种模式下测试效率较低，治具磨损较快，且连接器接头在频繁插拔下容易损坏。当前测试治具，每条Lane对应测试治具中的两个射频连接器接头(DP信号接头与DN信号接头)，进行下一条Lane的测试时，需将射频线缆接入另一对射频连接器接头，也就是说，要完成一条Lane的测试，需要插拔两根射频线缆。以PCIEX8信号的测试为例，因PCIE为差分信号，每条Lane有两根射频线缆，因此，完成一次X8测试需要进行16次的射频线缆插拔，而插拔时需断电操作，板卡重启耗时严重，频繁插拔，连接器接头极易损坏。

因此，如何方便、快速地完成对PCIE信号的所有数据通路的测试，简化测试操作步骤，降低信号接头的磨损，是本领域技术人员面临的技术问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种数据通路选通测试系统，能够方便、快速地完成对PCIE信号的所有数据通路的测试，简化测试操作步骤，降低信号接头的磨损。本发明的另一目的是提供一种PCIE信号测试治具。

为解决上述技术问题，本发明提供一种数据通路选通测试系统，包括用于与待测PCIE插槽接插配合以引出其差分信号的金手指，与所述金手指信号连接、用于择一选择与差分信号中的各个DP数据通路导通的P型线路选通模块，与所述金手指信号连接、用于择一选择与差分信号中的各个DN数据通路导通的N型线路选通模块，同时与所述P型线路选通模块及所述N型线路选通模块信号连接、用于同步控制两者的选通线路的选通切换模块，以及与所述P型线路选通模块及所述N型线路选通模块的输出端相连、用于将差分信号分别输出至信号测试器的接头对。

优选地，所述P型线路选通模块包括与差分信号中的各个DP数据通路分别导通并用于控制线路通断的若干个P型初级开关，以及选择性地与其中一个所述P型初级开关导通的P型次级开关，所述P型次级开关的输出端与所述接头对信号连接。

优选地，各所述P型初级开关均为分别对应多条DP数据通路的单刀多掷开关。