[发明专利]叉指方式的非对称双向可控硅静电释放器件及其制作方法有效

专利信息
申请号: 202010741325.0 申请日: 2020-07-29
公开(公告)号: CN111799258B 公开(公告)日: 2023-08-22
发明(设计)人: 汪洋;李婕妤;魏伟鹏;曹佩;曹文苗 申请(专利权)人: 湘潭大学
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L29/06;H01L21/8228
代理公司: 湘潭市汇智专利事务所(普通合伙) 43108 代理人: 陈伟
地址: 411105 湖南*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 方式 对称 双向 可控硅 静电 释放 器件 及其 制作方法
【权利要求书】:

1.一种叉指方式的非对称双向可控硅静电释放器件,其特征在于:包括P型衬底;

所述P型衬底上方设有P型外延层,P型衬底与P型外延层之间设有N型埋层;

所述P型外延层内从左往右依次设有第一高压N阱、第二高压N阱和第三高压N阱;

所述第一高压N阱内设有第一深N阱,第二高压N阱内设有第二深N阱且第二深N阱左侧宽于第二高压N阱,第三高压N阱内设有第三深N阱且第三深N阱左侧宽于第三高压N阱;

所述第二深N阱左上方设有第一浅N阱,第三深N阱左上方设有第二浅N阱;

所述第一深N阱的左侧设有第一深P阱,第一深N阱与第二深N阱之间从左至右依次设有第二深P阱和第三深P阱,第二深N阱与第三深N阱之间从左至右依次设有第四深P阱和第五深P阱,第三深N阱右侧设有第六深P阱;

所述第一深P阱到第六深P阱内依次设有第一浅P阱到第六浅P阱;

所述第一浅P阱中设有第一P+注入区;所述第二浅P阱中从左往右依次设有第二P+注入区、第一N+注入区;所述第三浅P阱中从左往右依次设有第四P+注入区、第二N+注入区;所述第二浅P阱和第三浅P阱之间跨接第三P+注入区;所述第四浅P阱中从左往右依次设有第五P+注入区、第三N+注入区;所述第五浅P阱中从左往右依次设有第七P+注入区、第四N+注入区;所述第四浅P阱和第五浅P阱之间跨接第六P+注入区;所述第六浅P阱中设有第八P+注入区;

所述第五P+注入区、第三N+注入区和第四N+注入区连接在一起并作为器件的阳极;所述第一P+注入区、第二P+注入区、第一N+注入区、第二N+注入区和第八P+注入区连接在一起并作为器件的阴极。

2.根据权利要求1所述的叉指方式的非对称双向可控硅静电释放器件,其特征在于:所述第一P+注入区左侧和P型外延层左侧边缘之间为第一场氧隔离区,第一P+注入区右侧与第二P+注入区左侧之间为第二场氧隔离区,第二P+注入区右侧和第一N+注入区左侧之间为第三场氧隔离区,第一N+注入区右侧和第三P+注入区左侧之间为第四场氧隔离区,第三P+注入区右侧和第四P+注入区左侧之间为第五场氧隔离区,第四P+注入区右侧和第二N+注入区左侧之间为第六场氧隔离区,第二N+注入区右侧和第五P+注入区左侧之间为第七场氧隔离区,第五P+注入区右侧和第三N+注入区左侧之间为第八场氧隔离区,第三N+注入区右侧和第六P+注入区左侧之间为第九场氧隔离区,第六P+注入区右侧和第七P+注入区左侧之间为第十场氧隔离区,第七P+注入区右侧和第四N+注入区左侧之间为第十一场氧隔离区,第四N+注入区右侧和第八P+注入区左侧之间为第十二场氧隔离区,第八P+注入区右侧和P型外延层右侧边缘之间为第十三场氧隔离区。

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