[发明专利]基于相位差分布曲线三点定形的频谱感知方法及相关设备有效
申请号: | 202010745822.8 | 申请日: | 2020-07-29 |
公开(公告)号: | CN112073130B | 公开(公告)日: | 2021-08-17 |
发明(设计)人: | 许文俊;王阳;高晖;张艺檬;张治;冯志勇 | 申请(专利权)人: | 北京邮电大学 |
主分类号: | H04B17/309 | 分类号: | H04B17/309;H04B17/382 |
代理公司: | 北京风雅颂专利代理有限公司 11403 | 代理人: | 王刚 |
地址: | 100876 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 相位差 分布 曲线 定形 频谱 感知 方法 相关 设备 | ||
1.一种基于相位差分布曲线三点定形的频谱感知方法,其特征在于,包括:
确定最优采样频率;
以所述最优采样频率,对接收端接收到的接收信号进行采样处理;其中,所述采样处理得到若干采样点;
分别计算相邻两个所述采样点的相位差,得到所述接收信号对应的第一相位差概率分布曲线;
对所述第一相位差概率分布曲线进行形状识别,得到判决统计量;
确定检测门限;
将所述判决统计量与所述检测门限进行比较,若所述判决统计量大于所述检测门限,则判定主用户信号存在;反之,则判定主用户信号不存在;
所述确定最优采样频率,具体包括:以预定的测试采样频率对所述接收信号进行采样处理,得到所述接收信号对应的测试相位差概率分布曲线;根据所述测试相位差概率分布曲线,得到其一阶余弦特征量;确定搜索范围,并根据所述搜索范围确定若干测试采样倍频;对于每个所述测试采样倍频,计算其对应的一阶余弦特征量的值;将最大的一阶余弦特征量的值作为采样倍频估计值;若2π除以所述采样倍频估计值的商为π的整数倍,或所述采样倍频估计值大于等于10,则将所述测试采样频率作为所述最优采样频率;若2π除以所述采样倍频估计值的商不为π的整数倍,且所述采样倍频估计值大于1小于10,则调整所述测试采样频率并重复得到所述采样倍频估计值的步骤,直至2π除以所述采样倍频估计值的商为π的整数倍,或所述采样倍频估计值大于等于10;
所述对所述第一相位差概率分布曲线进行形状识别,得到判决统计量,具体包括:确定所述第一相位差概率分布曲线的两个端点以及极值点;计算所述极值点与一个所述端点的连线的第一斜率,以及计算所述极值点与另一所述端点的连线的第二斜率;将所述第一斜率和所述第二斜率的绝对值的平均值作为所述判决统计量;
所述确定检测门限,具体包括:获取接收端接收到的高斯噪声信号,并得到所述高斯噪声信号对应的第二相位差概率分布曲线;对所述第二相位差概率分布曲线进行形状识别,得到待选检测门限;根据随机生成的若干高斯噪声信号,得到若干所述待选检测门限;根据虚警概率的数值,从若干所述待选检测门限中确定所述检测门限。
2.根据权利要求1所述的基于相位差分布曲线三点定形的频谱感知方法,其特征在于,所述最优采样频率满足如下公式:
其中,为载波频率;为最优采样频率。
3.根据权利要求1所述的基于相位差分布曲线三点定形的频谱感知方法,其特征在于,所述确定所述第一相位差概率分布曲线的两个端点以及极值点之后,还包括:
若所述极值点与两个所述端点中的任一重合,则用所述第一相位差概率分布曲线的中点替换所述极值点,以计算所述第一斜率和所述第二斜率。
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