[发明专利]一种物体微小形变的快速检测方法及检测系统

权利要求书

1.一种物体微小形变的快速检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤S1：将N个半导体激光器，构成一个半导体矩阵；

步骤S2：在被测物体的光滑表面，涂上大小均匀的黑白网格，其中黑白网格交叉分布，网格交叉点作为观察点；

步骤S3：点亮激光器阵列中的半导体激光器，并将每个激光器的光斑投影到观察点上并进行校准，使光斑投影在观察点的中心位置；

步骤S4：在被测物体未工作时，随机点亮激光器阵列中的半导体激光器，采用光电探测器探测n个观察点反射光信号的n次测量结果，记为标定向量；

步骤S5：在被测物体工作后，采用步骤S4中的点亮方式点亮激光器阵列中的半导体激光器，采用光电探测器探测n个观察点反射的光信号的n次测量结果，记为检测向量；

步骤S6：计算标定向量和检测向量差的二范数，将二范数与设定阈值对比，判断被测物体是否发生形变。

2.根据权利要求1所述的一种物体微小形变的快速检测方法，其特征在于：步骤S2中，每个观察点对应一个半导体激光器。

3.根据权利要求2所述的一种物体微小形变的快速检测方法，其特征在于：所述标定向量Y为：

其中,c_ni为随机系数，其值为0或1,下标n代表第n次测量，I_n表示第n次测量的光强值，i代表第i个观察点，P_i代表第i个观察点在有激光照射时的亮度。

4.根据权利要求3所述的一种物体微小形变的快速检测方法，其特征在于：所述检测向量Y^t为：

其中,表示被测物体工作后第n次测量的光强值，代表被测物体工作后第i个观察点在有激光照射时的亮度。

5.根据权利要求4所述的一种物体微小形变的快速检测方法，其特征在于：所述标定向量和检测向量差的二范数为||Y-Y^t||₂，当二范数的值大于设定阈值时，判定被测物体发生了形变，当二范数的值小于设定阈值时，判定被测物体没有发生形变。