[发明专利]基于相位差分布曲线解析表达的频谱感知方法及相关设备有效

专利信息
申请号: 202010747039.5 申请日: 2020-07-29
公开(公告)号: CN112073131B 公开(公告)日: 2021-08-17
发明(设计)人: 许文俊;王阳;冯志勇;张艺檬;高晖;张治 申请(专利权)人: 北京邮电大学
主分类号: H04B17/309 分类号: H04B17/309;H04B17/382
代理公司: 北京风雅颂专利代理有限公司 11403 代理人: 王刚
地址: 100876 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 基于 相位差 分布 曲线 解析 表达 频谱 感知 方法 相关 设备
【权利要求书】:

1.一种基于相位差分布曲线解析表达的频谱感知方法,其特征在于,包括:

对接收端接收到的接收信号进行采样处理;其中,所述采样处理得到若干采样点;

分别计算相邻两个所述采样点的相位差,得到所述接收信号对应的第一相位差概率分布;

对所述第一相位差概率分布进行特征量提取,得到判决统计量;

根据所述判决统计量,确定检测门限;

将所述判决统计量与所述检测门限进行比较,若所述判决统计量大于所述检测门限,则判定主用户信号存在;反之,则判定主用户信号不存在;

所述对所述第一相位差概率分布进行特征量提取,得到判决统计量,具体包括:根据所述第一相位差概率分布,得到第一一阶余弦特征量;确定第一搜索范围,并根据所述第一搜索范围确定若干第一采样倍频;对于每个所述第一采样倍频,计算其对应的第一一阶余弦特征量的值;将最大的第一一阶余弦特征量的值作为所述判决统计量;

所述根据所述判决统计量,确定检测门限,具体包括:获取接收端接收到的高斯噪声信号,并得到所述高斯噪声信号对应的第二相位差概率分布;根据所述第二相位差概率分布,得到第二一阶余弦特征量;确定第二搜索范围,并根据所述第二搜索范围确定若干第二采样倍频;对于每个所述第二采样倍频,计算其对应的第二一阶余弦特征量的值,并取最大的第二一阶余弦特征量的值作为待选检测门限;根据随机生成的若干高斯噪声信号,得到若干所述待选检测门限;根据虚警概率的数值,从若干所述待选检测门限中确定所述检测门限;

所述确定第二搜索范围,具体包括:将最大的第一一阶余弦特征量的值对应的所述第一采样倍频作为采样倍频估计值;确定估计误差;将所述采样倍频估计值减去所述估计误差作为下限,将所述采样倍频估计值加上所述估计误差作为上限,以确定所述第二搜索范围。

2.根据权利要求1所述的基于相位差分布曲线解析表达的频谱感知方法,其特征在于,所述对所述第一相位差概率分布进行特征量提取,得到判决统计量之前,还包括:

根据M2M4信噪比估计算法,估计所述接收信号的信噪比估计值;

根据所述信噪比估计值,调整所述采样点的数量。

3.根据权利要求2所述的基于相位差分布曲线解析表达的频谱感知方法,其特征在于,所述根据所述信噪比估计值,调整所述采样点的数量,具体包括:

当所述信噪比估计值小于-15dB时,保持当前的所述采样点的数量不变;

当所述信噪比估计值大于等于-15dB,且小于-5dB时,增加所述采样点的数量;

当所述信噪比估计值大于等于-5dB时,减少所述采样点的数量。

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