[发明专利]测量方法、系统、装置及终端设备

说明书

本申请适用于虚拟现实显示设备技术领域，提供一种测量方法、系统、装置及终端设备。本申请实施例通过当虚拟现实显示设备的显示模组处于点亮状态时，控制所述摄像头对所述显示模组进行对焦；当所述显示模组处于所述摄像头的焦点位置时，通过所述摄像头获取所述显示模组显示的图像画面；根据获取的所述图像画面，获取所述虚拟现实显示设备的光学参数。应用本技术方案，在不切换测量图像画面(测量图卡)的情况下，可以简单快速的实现对虚拟现实显示设备的多个光学参数的精确测量，可广泛应用于虚拟现实显示设备的大规模生产和快速研发阶段。

技术领域

本申请属于虚拟现实显示(Virtual Image Display，VID)设备技术领域，尤其涉及一种测量方法、系统、装置及终端设备，用于测量虚拟现实显示设备的光学参数。

背景技术

虚拟现实显示设备，可以实现虚拟现实(Virtual Reality，VR)可以为用户带来良好的视觉享受。

虚拟现实显示设备显示模组的光学参数直接影响用户体验和舒适度，光学参数包括但不限于清晰度(SFR，Spatial Frequency Response)、虚像距离(VID，Virtual ImageDistance)、视场角(FOV，Field of View)、畸变(Distortion)、对比度(Contrast Ratio)、色散(CA， Chromatic aberration)、视差(Disparity)、角分辨率(PPD,Pixels PerDegree)、亮度均匀性(Luminance Uniformity)、色彩均匀性(Color Uniformity)、色温(CCT，Correlated Color Temperature)等。上述光学参数中，任何一个参数不达标，都会严重影响用户的使用。所以在研发、生产过程中，测量上述参数是否达标是虚拟显示设备光学模块的核心工作之一。

现有技术中，常见的测量方案需要计算机控制显示模组切换不同图卡以测量相应的光学参数，过程不但繁琐，且耗时长，在研发的快速迭代和大规模量产过程中难以使用、推广。由此可见，亟需一种能快速测量虚拟现实显示设备不同光学参数的测量方案。

发明内容

本申请实施例提供了一种测量方法、系统、装置及终端设备，在不切换测量图像画面(测量图卡)的情况下，可以简单快速的实现对虚拟现实显示设备的多个光学参数的精确测量。

本申请实施例的第一方面提供一种测量方法，包括：

当虚拟现实显示设备的显示模组处于点亮状态时，控制所述摄像头对所述显示模组进行对焦；所述显示模组显示待测的图像画面，所述图像画面包括棋盘格区域以及围绕所述棋盘格区域的纯色圆形区域；

当所述显示模组处于所述摄像头的焦点位置时，通过所述摄像头获取所述显示模组显示的图像画面；

根据获取的所述图像画面，获取所述虚拟现实显示设备的光学参数。

本申请实施例的第二方面提供一种终端设备，包括：存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如本申请实施例的第一方面所述的测量方法。

本申请实施例的第三方面提供一种测量系统，包括：摄像头以及如本申请实施例的第二方面所述的终端设备，所述终端设备与所述摄像头通信连接。

本申请实施例的第四方面提供一种测量装置，包括：处理单元及摄像单元；

所述摄像单元，用于当虚拟现实显示设备的显示模组处于点亮状态时，对所述显示模组进行对焦；所述显示模组显示待测的图像画面，所述图像画面包括棋盘格区域以及围绕所述棋盘格区域的纯色圆形区域；以及，当所述显示模组处于所述摄像单元的焦点位置时，通过所述摄像单元获取所述显示模组显示的图像画面；

所述处理单元，用于以及根据获取的所述图像画面，获取所述虚拟现实显示设备的光学参数。