[发明专利]基于法-珀干涉的透明流体折射率的测量方法

权利要求书

1.一种基于法-珀干涉的透明流体折射率的测量方法，其特征在于：包括以下步骤：

获取至少两个开放式的双光束法-珀干涉结构传感器，所有传感器的F-P腔的几何腔长值已知且互不相同，以传感器n和L_n分别表示第n个传感器以及该传感器F-P腔的几何腔长值；分别接入宽谱光源和光谱仪，入射光以垂直于传感器法-珀腔界面的方向入射，以能够获取其测量光谱图；

（b）将步骤（a）中的n个传感器的法-珀腔中填充满待测介质，获取各传感器的检测光功率谱I_r(λ)，λ表示光波长，由入射光的功率谱I_i(λ)对检测光功率谱进行归一化处理，获得各传感器的归一化图谱R(λ)=I_r(λ)/I_i(λ)；

（c）选取上述n个传感器在相同波段范围内的归一化图谱，分别获取各传感器归一化图谱中波谷的波长值，各自将归一化图谱中波谷的波长值按照从小到大进行排列，并以λ_n·m表示第n个传感器在该选取波段范围内第m个波谷的波长值；

（d）设置大于第n个传感器波谷数量的正整数K_n为第n个传感器的系数，分别描绘散点(λ_1·m, (K₁-m)λ_1·m/2L₁)在不同K₁取值下、散点(λ_2·m, (K₂-m)λ_2·m/2L₂)在不同K₂取值下、…、散点(λ_n·m, (K_n-m)λ_n·m/2L_n)在不同K_n取值下构成的曲线，获取散点(λ_1·m, (K₁-m)λ_1·m/2L₁)曲线、散点(λ_2·m, (K₂-m)λ_2·m/2L₂)曲线、…、散点(λ_n·m, (K_n-m)λ_n·m/2L_n)曲线重合度最高时K₁、K₂、…、K_n的取值，分别设置为H₁、H₂、…、H_n；

(H₁-m)λ_1·m/2L₁即为待检测介质在λ_1·m波长下的折射率，(H₂-m)λ_2·m/2L₂即为待检测介质在λ_2·m波长下的折射率，…，(H_n-m)λ_n·m/2L_n即为待检测介质在λ_n·m波长下的折射率；根据散点(λ_n·m, K_nλ_n·m/2L_n)所描绘的曲线即为待检测介质折射率在步骤(c)中选取波段范围内的折射率曲线。