[发明专利]一种光纤宏弯测试装置的使用方法

说明书

本发明公开了一种光纤宏弯测试装置的使用方法，光纤宏弯测试装置包括：用于控制光纤进行宏弯损耗测试的测试仪器、用于衔接测试仪器的输出端和光纤的引纤以及用于将引纤和光纤融合为一体的熔接机，使用方法包括：S1、熔接机将测试仪器输出端的引纤和光纤融合为一体；S2、测试仪器控制光纤进行打圈操作，并记录弯曲状态下的光纤的衰减情况和第一功率损耗值；S3、测试仪器控制打圈的光纤进行松开操作，并记录直线状态下的光纤的衰减情况和第二功率损耗值；S4、测试仪器计算第一功率损耗值和第二功率损耗值的差值。通过使用本发明所提供的光纤宏弯测试装置的使用方法，可以有效保证宏弯损耗测试的准确性。

技术领域

本发明涉及光纤技术领域，更具体地说，涉及一种光纤宏弯测试装置的使用方法。

背景技术

现有技术中，大多数光纤光缆厂在对光纤进行宏弯测试时，都是使用V型槽来连接测试仪器的引纤与被测光纤。然而，V型槽在测试过程中压块容易松动，导致测试仪器的注入功率发生变化，当被测光纤的输入端面或输出端面的平整度、光滑度较差时，也会导致测试仪器的注入功率不稳定，从而不能保证宏弯损耗测试的真实性。

综上所述，如何提供一种可有效保证宏弯损耗测试准确性的测试方法，是目前本领域技术人员亟待解决的问题。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的是提供一种光纤宏弯测试装置的使用方法，其可以有效保证宏弯损耗测试的准确性。

为了实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种光纤宏弯测试装置的使用方法，所述光纤宏弯测试装置包括：用于控制光纤进行宏弯损耗测试的测试仪器、用于衔接所述测试仪器的输出端和所述光纤的引纤以及用于将所述引纤和所述光纤融合为一体的熔接机，所述使用方法包括：

S1、熔接机将测试仪器输出端的引纤和光纤融合为一体；

S2、所述测试仪器控制所述光纤进行打圈操作，并记录弯曲状态下的所述光纤的衰减情况和第一功率损耗值；

S3、所述测试仪器控制打圈的所述光纤进行松开操作，并记录直线状态下的所述光纤的衰减情况和第二功率损耗值；

S4、所述测试仪器计算所述第一功率损耗值和所述第二功率损耗值的差值。

优选的，所述S1还包括：分别制作所述引纤的端面和所述光纤的端面，利用所述熔接机融合所述引纤端面和所述光纤端面。

优选的，所述S1还包括：如果所述引纤端面和所述光纤端面的融合损耗超出限定值，则重新制作所述引纤端面和所述光纤端面，再进行融合操作；如果所述引纤端面和所述光纤端面的融合损耗未超出所述限定值，则执行所述S2操作。

在利用本发明所提供的使用方法对光纤宏弯测试装置进行操作时，首先，可以利用熔接机对引纤端面和光纤端面进行熔接操作。由于熔接机可以利用高压电弧将引纤与光纤的端面熔化，同时可以利用高精度运动机构平缓推进引纤与光纤，使得引纤与光纤融合成一体，以有效保证引纤和光纤的连接效果、实现光纤模场的耦合，继而可以保证测试仪器注入功率的稳定性。待引纤和光纤融合为一体后，测试仪器可以控制光纤进行宏弯损耗测试操作，以使测试仪器可得到准确的宏弯损耗测试结果。

综上所述，本发明所提供的光纤宏弯测试装置的使用方法，可以有效保证宏弯损耗测试的准确性。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。

图1为本发明所提供的光纤宏弯测试装置的结构示意图；